电磁膜内阻提升报告.docxVIP

Rev. 01 电磁膜内阻性能提升报告 一、问题描述 测量样品如图示： 备注： 二、确认与分析 确认：参考客户测试图片，将正常量产电磁膜剪切取样压合，测量尺寸10mm*30mm。 内阻值：1.55-1.70欧姆。 测量样品数据表与图示： 批次 1 2 3 4 平均 内阻（欧姆） 1.68 1.57 1.56 1.68 1.62 分析： 目前量产产品抽测不同批次数据为1.55-1.70欧姆，可满足现有客户需求。此新客户要求电磁膜内阻小于1欧姆，性能需要提升。 电磁膜结构：黑色绝缘层/金属屏蔽层/导电胶层。其中金属层及导电胶层有导电性（电阻），与电磁膜内阻相关联。金属层全方向性导电，导电胶层只纵向导电而横向不导电。金属层（横向）与导电胶层(纵向)的电阻是串联关系，电磁膜内阻为横向电阻及纵向接触电阻之和。 结构图示： 黑色绝缘层5um 金属层0.1um 导电胶10um 导电流向图示： 　 黑色绝缘层5um 　 　 金属层0.1um 　 　 导电胶层10um 　 CU 　 　 CU 　 　 PI 　 　 金属层横向电阻的直接模拟测量（剪切样品测量尺寸10mm*30mm） 备注：生产实时方阻控制0.15-0.3欧姆（专用方阻测量法） 批次 1 2 3 4 5 平均 横向电阻（欧姆） 1.53 1.30 1.45 1.63 1.58 1.50 导电胶层纵向电阻的测量（样品4mm PAD） 批次 1 2 3 4 5 平均 纵向电阻（欧姆） 0.19 0.18 0.23 0.21 0.17 0.20 综上分析，内阻中金属层横向电阻占比约达90%，为重点提升改进点。 三、改进措施及评估 1、改进措施与试验 电磁膜内阻主要由金属屏蔽层的电阻决定，根据电学常识增加金属层厚度来降低其电阻。 措施：金属层加工工序金属沉积时间由6分钟，增加为8、12、16、20分钟（程序设定），对比测试。 横向电阻测量：样品测量尺寸10mm*30mm 沉积分钟 6 8 12 16 平均横向电阻（欧姆） 1.50 1.02 0.60 0.27 根据上表，选择设定沉积12分钟进行全流程试产小批量（生产实时方阻控制0.08-0.12欧姆）。 试产电磁膜内阻测量：测量尺寸10mm*30mm（沉积12分钟） 样品序号 1 2 3 4 平均 内阻（欧姆） 0.67 0.65 0.73 0.68 0.68 备注：2013-1-8送此批试产改进品，客户端测试电磁膜内阻0.9欧姆，合格。 2、改进品其它性能评估 项目 测试方法 标准 结果 耐挠曲性 弯曲半径1mm 100,000 OK 耐焊性 漂锡288℃ 10s 不起泡分层 OK 耐酸碱 2N盐酸，2N氢氧化钠 不起泡分层 OK 耐溶剂擦拭 乙醇、丁酮 不变色 OK 四、控制措施 因应客户需求，增加电磁膜金属层厚度(降低金属层电阻)，并加强监控。 具体措施： 金属层加工工序，设定沉积时间12分钟。生产实时方阻控制（专用方阻测量）：旧范围0.15-0.3欧姆，新控制范围为0.08-0.12欧姆。 成品性能检测：每箱货（100m*250mm）取样一次直接测量电磁膜内阻，要求小于0.75欧姆。测量尺寸10mm*30mm，并记录电磁膜内阻于出货检验报告。