光学薄膜的特性检测PPT课件.ppt

;光度法测量薄膜的光学常数;利用反射率求折射率;于是测量折射率就成了简单的事情，只需要读取极值反射率，然后从上式求解n;;利用透射率求折射率;;;上式求出Tm，而后带入上面式子便得到n 这种方法不仅校正了基片背面的吸收的影响，而且由于采用比较法测量，减小了光度计的测量误差。 前面我们假定膜层没有吸收，实际透明膜或多或少会有一些吸收 。可采用多次反射，通过延长光学路径的办法，便能测量若吸收的吸收系数 ;吸收系数的测量;在膜层中的传播路径为 ;于是经过2N次反射后从平板射出的光强变为; ;;;;;;; ; ; ;;椭偏法测量的基本思路是，起偏器产生的线偏振光经取向一定的1／4 波片后成为特殊的椭圆偏振光，把它投射到待测样品表面时，只要起偏器取适当的透光方向，被待测样品表面反射出来的将是线偏振光。根据偏振光在反射前后的偏振状态变化（包括振幅和相位的变化），便可以确定样品表面的许多光学特性。;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;光学薄膜系统透射比、反射比和弱吸收的测量; 光学薄膜系统参数测量包括介质膜折射率测量、光学薄膜厚度测量、光学薄膜透射比测量、光学薄膜反射比测量、光学薄膜吸收比测量、光学薄膜散射比测量、薄膜机械强度和应力测量等。 我们介绍光学薄膜透射比，反射比和弱吸收测量。;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统反射比的测量;薄膜系统反射比的测量; 高能激光的发展要求有质量非常高的光学薄膜．光学薄膜吸收的存在，是限制高能激光发展的主要因素之一． 为了改善光学薄膜质量，提高其损伤阈值，需要精确测量光学薄膜的微弱吸收。;薄膜系统弱吸收的测量;薄膜系统弱吸收的测量;薄膜系统弱吸收的测量;薄膜系统弱吸收的测量;薄膜厚度和折射率的测量;薄膜的厚度和折射率的测量方法;薄膜透射率和反射率的测量;薄膜透射率和反射率的测量;薄膜透射率和反射率的测量;反射率测量;2.绝对反射 率测量 V-W型;V-N型 ;根据V-W和V-N测量原理设计自己的测量附件 ;*