agilent 4294a阻抗分析仪使用手册.pdfVIP

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Agilent4294A 阻抗分析仪 使用手册 华中科技大学激光技术国家重点实验室 2002 年1 月 目录 目录 错误!未指定书签。 精心整理 一、介绍 错误!未指定书签。 二、基本原理: 错误!未指定书签。 三、AGILENT 4294A 的主要技术指标:错误!未指定书签。 四、前/后面板、硬/软键介绍 错误!未指定书签。 五、测量方法 错误!未指定书签。 一、介绍 Agilent4294A 精密阻抗分析仪可以对各种电子器件(元件和电路)以及电子材料和非电子材料的精确阻抗测 量提供广泛的支持。它是对电子元件进行设计、签定、质量控制和生产测试的强有力工具。它所提供的性能和功 能对于电路设计开发人员将获益匪浅。此外,Agilent4294A 的优良测量性能和功能为电路的设计和开发以及材料 (电子材料和非电子材料)的研究和开发提供强有力的工具。它具有: ·在宽阻抗范围的宽频率范围内进行精确测量 ·强大的阻抗分析功能 ·便于使用并能用多种方式与PC机配套 电子器件: 无源元件:二端元件如电容器、电感器、铁氧体珠、电阻器、变压器、晶体/ 陶瓷谐振器、多芯片组件或阵 列/ 网络元件的阻抗测量。 半导体元件:变容二极管的C -V (电流-电压)特性分析;二极管、晶体管或集成电路(IC)封装终端/ 引线 的寄生分析;放大器的输入/输出阻抗测量。 其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。 材料: 精心整理 介质材料:塑料、陶瓷、印制电路板和其它介质材料和损耗切角评估。 磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。 半导体材料:半导体材料的介电常熟、导电率和C-V特性。 二、基本原理: Agilent4294A阻抗分析仪所采用的是自动平衡电桥技术。如图所示:可以将平衡电桥看作一个放大器电路, 基于欧姆定律V=I*R进行测量。被测器件(DUT)通过一个交流源激励,它的电压就是在高端H监测到的电压。 低端L为虚拟地,电压为0V。通过电阻器R 的电流I 跟通过被测器件(DUT)的电流I相等。因此,输出电压和 2 2 通过被测器件(DUT)的电流成正比,电压和电流自动平衡,这也就是它的名字的由来。 V VR V I R Z  1 1 2 2 2 2 I V 2 2 在实际应用中,为了覆盖更加大的频率范围,通常用一个null-detector和modulator来代替电路中的放大器。 当然,这只是一个基本的测量原理电路,为了得到精确的结果,还有许多的附加电路。 三、Agilent4294A的主要技术指标:

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