测量系统分析实战应用.pdf

第一部分：分辨力的选择 在介绍测量系统分析具体应用之前，先介绍一下测量系统的应用范围： 1.用于产品控制：目的是希望通过测量系统有效的区分产品的特性是否在公差范围内。也就是区分这个零件是合格还 是不合格。 2.用于过程控制：目的是评价过程是否稳定和可接受，也就是说能够有效的区分过程的波动 以上两个分类非常重要，后续会根据这两个理念，引出“过程比”和“公差比”的概念。 ▶理想的测量系统是不存在的，因此在实际应用时，相对公差，对零件做出错误决定的潜在因素只在测量系统误差与公 差交叉时存在。下面给出了三个区域的划分： I.坏零件无论如何测量，总是称为坏的 II.可能会做潜在的错误决定 III.好零件无论如何测量，总是称为好的 ◆上面的图形表示了这样一个事实：无论采用何种测量系统，总有判断错误的情况发现（除非II 区是0 ，但是这种理想 的状态并不存在） ◆所以，测量系统分析的本质并不是判断测量系统是否有误差，而是判断测量系统的误差是否足够小从而能够满足实 际的使用要求。 ▶下面的图形，展示了测量系统对产品变异的影响，由于测量系统存在波动，因此实际上，我们用测量系统测量得到的 数据，实际包含了两部分的波动：“产品本身的波动”＋“测量系统的波动”。 ◆测量系统的波动是无法消除的，所以，测量系统分析的任务是两个： 1.寻找一个合适的测量系统 2. （定期）评价这个测量系统是否能满足我们的使用要求。 ◆一般的，对于测量系统，我们主要评价以下指标： 1.分辨力 2.稳定性 3.偏倚（性） 4.线性 5.重复性 6.再现性 其中，指标2~5 常常被称为测量系统的“五性”。我们这里不讨论具体的选择处理方法，而是针对在实际中的一 些应用难点加以分析，给出大家一些应对难点问题的方法。 ▶首先，我们来看看“分辨力”。分辨力是仪器可以探测到并如实显示的参考值的变化量。这种能力的度量是看仪器的 最小刻度值。如果测量系统的分辨力不高，就无法正确识别，从而导致不正确的结果。 ▶对于分辨力的选择原则，教科书式的描述是： ◆测量仪器分辨力的最低要求是最小刻度同时小于产品规格（规格上限 USL 减去规格下限LSL ）或过程总波动（用6 倍的过程标准差6σ表示）的十分之一。也就是有两个分支，十分之一公差（带宽）和十分之一过程总波动，测量系统 的分辨力应该小于两个分支中较小的一个。 ◆然而，问题来了，对于一个全新的过程，测量系统是先于制造设备的，在没有制造设备的前提下，如何预知过程总波 动？如果无法预知过程总波动，如何选择测量系统？ ◆我们把分辨力选择原则的两个分支进行相除： ◆看看，我们现在得到了什么，等式右侧的表达式是不是很眼熟……，这不是过程能力指数C_p 的表达式吗？好了，有 了这个条件，我们现在可以有应对的方法了。 ◆通常而言，尽管制造过程还没有到位，但是我们对整体的制造过程是有相应的（期望）要求的，也就是说，我们是 要求过程能力C_p 满足一定的要求以后（通常的最低要求是C_p1 ），才可以投入正式生产的。有了这个前提，我们 就可以反推测量系统的基本要求了。由于： 因此： ▶我们来看一个案例：某个全新的制造过程的特性（尺寸）指标，公差带宽USL-LSL=0.15mm ，要求特性的过程能力 C_p1.67 ，那么测量系统的分辨力应该满足： ◆换句话说，通过这样的方法选择的测量系统分辨力能够有效识别C_p=1.67 的情况。绝大部分情况下，这样的选择 足够使用者的需求了。如果运气爆棚，实际的过程能力指数C_p 达到2.0 以上，那么也需要评估是否有必要（值得）进 一步提高分辨力。因为随着分辨力的改变，相对应的测量设备价格也会相应变化。 第二部分：重复性和再现性、公差比和过程比 ▶上一期分享了测量系统选择分辨力的经验，这一期我们讨论一下测量系统的“重复性和再现性”指标的实战经验。 ▶下面两个方程是测量系统分析的基本模型。 ◆说明：上面的表达式揭示了一个现实问题，我们用测量系统测量实际产品后得到的数据的变异（波动），要比实际的 制造过程变异（波动）要大一些，因为里面包含了测量系统的变异（波动）。 ◆说明：测量系统的变异可以进一步分解为，重复性变异和再现性变异。 ◆分析重复性和再现性的指标之前，先了解一些两者的定义。 A. 重复性：是由同一个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性