统计製程管制(SPC)概述.pptVIP

(0.8413)^25=0.01329 如果用n=1時，其製程中心偏離了2σ其檢出力為0.1586 如果用n=4時，其製程中心偏離了2σ其檢出力為0.842 B計算控制限 * 第一百二十七页，共一百四十三页。 過程控制解釋、過程能力解釋 C過程控制解釋：同“p”圖的解釋。 D過程能力解釋：過程能力如下： * 第一百二十八页，共一百四十三页。 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 1 2 1 0 1 2 1 2 0 2 不合格品數np圖 * 第一百二十九页，共一百四十三页。 Case study 組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 “n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150 “d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0 組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 “n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150 “d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0 組 21 22 23 24 25 “n” 150 150 150 150 150 “d” 0 1 2 0 1 * 第一百三十页，共一百四十三页。 Case study 請計算出上表的np控制圖的控制限？ 請判定過程是否穩定？ 如果是不穩定該如何處理？ * 第一百三十一页，共一百四十三页。 缺陷數c圖 “c”圖內來測量一個檢驗批內的缺陷的數量，c圖要求樣本的容量或受檢材料的數量恆定，它主要用以下兩類檢驗： 不合格分佈在連續的產品流上(例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點)，以及可以用不合格的平均比率表示的地方(如每100平方米維尼龍上暇疵)。 在單個的產品檢驗中可能發現許多不同潛在原因造成的不合格(例如：在一個修理部記錄，每輛車或元件可能存在一個或多個不同的不合格)。 主要不同之處如下： * 第一百三十二页，共一百四十三页。 A收集數據 檢驗樣本的容量(零件的數量，織物的面積，電線的長度等)要求相等，這樣描繪的c值將反映質量性能的變化(缺陷的發生率)而不是外觀的變化(樣本容量n)，在數據表中記錄樣本容量； 記錄並描繪每個子組內的缺陷數(c) * 第一百三十三页，共一百四十三页。 B計算控制限 * 第一百三十四页，共一百四十三页。 過程控制解釋、過程能力解釋 過程控制解釋 同p圖解釋 過程能力解釋 過程能力為c平均值，即固定容量n的樣本的缺陷數平均值。 * 第一百三十五页，共一百四十三页。 Case study 組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 “c” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0 組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 “c” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0 組 21 22 23 24 25 “c” 0 1 2 0 1 每一組的樣本數都是固定為100。 * 第一百三十六页，共一百四十三页。 Case study 請計算出上表的c控制圖的控制限？ 請判定過程是否穩定？ 如果是不穩定該如何處理？ * 第一百三十七页，共一百四十三页。 單位產品缺陷數的u圖 “u”圖用來測量具有容量不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內每檢驗單位產品之內的缺陷數量。除了缺陷量是按每單位產品為基本量表示以外，它是與c圖相似的。“u”圖和“c”圖適用於相同的數據狀況，但如果樣本含有多於一個“單位產品”的量，為使報告值更有意義時，可以使用“u”圖，並且在不同時期內樣本容量不同時必須使用“u”圖。“u”圖的繪制和“p”圖相似，不同之處如下： * 第一百三十八页，共一百四十三页。 A收集數據 各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量保持在其平均值的正負25%以內可以簡化控制限的計算。 記錄並描繪每個子組內的單位產品缺陷數u=c/n 式中c為發現的缺陷數量，n為子組中樣本容量(檢驗報告單位的數量)，c和n都應記錄在數據表中。 * 第一百三十九页，共一百四十三页。 B計算控制限 * 第一百四十页，共一百四十三页。 過程控制解釋、過程能力解釋 過程控制解釋 同p圖解釋 過程能力解釋 過程能力為u平均，即每報告單元缺陷數平均值。 * 第一百四十一页，共一百四十三页。 Case study 組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 “n” 2 1 1 3 3 2 1 2 2 1 “c” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0 組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 “n” 3 2 1 4 1 2 1 2 3 1 “c” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0 組 21 22 23 24 25 “n” 1 2 4 1 2 “c” 0 1 2 0 1 * 第