SPC统计培训教程.ppt

不合格率的p图 数据收集 选择子组的容量、频率和数量 子组容量(n=50~200) 分组频率 子组的数量(25) 计算每个子组的不合格率（p） 记录每个子组的下列值 被检项目的数量——n 发现的不合格项目——np 计算不合格率p=np/p 选择控制图的坐标刻度（1.5~2倍） 将不合格品率描绘在控制图上 .（.....） 专业提供企管培训资料 ?John Z. Rao 2001 * 第二十九页，共四十九页。 不合格率的p图 计算控制界限 计算过程平均不合格品率 P= 计算上、下控制界限（UCL、LCL） UCL=p+3 LCL=p- 画线并标注 过程平均——水平实线 控制线路（UCL、LCL）——水平虚线 ?John Z. Rao 2001 * 第三十页，共四十九页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?不变 ?倾向性变化 ?John Z. Rao 2001 * 第三十一页，共四十九页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?不变 ?无规律变化 ?John Z. Rao 2001 * 第三十二页，共四十九页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?规律性变化 ?不变 ?John Z. Rao 2001 * 第三十三页，共四十九页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?无规律变化 ?不变 .（.....） 专业提供企管培训资料 ?John Z. Rao 2001 * 第三十四页，共四十九页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?无规律变化 ?无规律变化 ?John Z. Rao 2001 * 第三十五页，共四十九页。 SPC培训教程 一、持续改进及统计过程控制概述 二、SPC基础 三、计数型数据控制图 .（.....） 专业提供企管培训资料 ?John Z. Rao 2001 * 第一页，共四十九页。 产品质量波动及其统计描述 产品质量特性 定性 定量 连续 离散 计量值 计数值 计件值 计数值 .（.....） 专业提供企管培训资料 ?John Z. Rao 2001 * 第二页，共四十九页。 变 异 误差 ?=X-X0 偶然性误差：误差大小和方向的变化是随机的。 系统性误差：误差大小和方向的变化保持不变或按一定规律变化。 过程控制中常用精度这个概念来反映质量的波动（变异）程度。 ?John Z. Rao 2001 * 第三页，共四十九页。 精 度 精度又可分为： 准确度(Accuracy)： 反映系统误差的影响程度； 精密度(Precision)： 反映偶然误差的影响程度； 精确度(Uncertainty)： 反映系统误差和偶然误差综合的影响程度 .（.....） 专业提供企管培训资料 ?John Z. Rao 2001 * 第四页，共四十九页。 精度的概念 准确度好 精密度好 系统误差小 偶然误差小 准确度差 精密度高 系统误差大 偶然误差小 准确度高 精密度差 系统误差小 偶然误差大 准确度差 精密度差 系统误差大 偶然误差大 ?John Z. Rao 2001 * 第五页，共四十九页。 持续改进及统计过程控制概述 预防与检测 过程控制系统 变差：普通原因及特殊原因 局部措施和对系统采取措施 过程控制和过程能力 过程改进循环及过程控制 控制图：过程控制工具 控制图的益处 ?John Z. Rao 2001 * 第六页，共四十九页。 持续改进及统计过程控制概述之一检测与预防 过程控制的需要 检测—容忍浪费 预防—避免浪费 .（.....） 专业提供企管培训资料 ?John Z. Rao 2001 * 第七页，共四十九页。 持续改进及统计过程控制概述之二过程控制系统 我们工作 的方式 资源的融合 产品 或 服务 顾客 识别不断变化 的需求和期望 顾客的声音 人 ? 设备 ? 材料 ? 方法 ? 环境 ? ? 输入 ? 过程/系统 ? 输出 过程的声音 统计方法 有反馈的过程控制系统模型 ?John Z. Rao 2001 * 第八页，共四十九页。 持续改进及统计过程控制概述之三变差的普通原因及特殊原因 .（.....） 专业提供企管培训资料 ?John Z. Rao 2001 * 第九页，共四十九页。 SPC基础 SPC (Statistical Process Control) 统计过程控制：利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而得到保证产品质量的目的。 二十世纪二十年代美国休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制(Process Control)理论极其监控过程的工具—控制图(Control Chart)形成SPC的基础，后扩展到任何可以应用的数理统计方法。 控制图(Control Chart)：对过程质量特性记录评估，以监察过程是否处于受控状态的一种统计方法图。 1924年5月6