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1 球形壳体和椭球形壳体的区别 (三)椭球形壳体上的薄膜应力 球形壳体 椭球形壳体 (1)球形壳体上各点处薄膜应力相同。 (2)椭球形各点处薄膜应力不同,与椭 球形壳体长短轴半径a,b有关。 区别: (1)a/b≤2,顶点处应力最大 (2) 2 椭球形壳体顶点B处的薄膜应力的特点 (1)直径不变: (2)直径不变: 3 椭球形壳体赤道C处的薄膜应力的特点 (1) a/b=2 (2) 4 标准半椭球形封头特点 结论:标准半椭球内的最大 薄膜应力值与同直径、同厚 度的圆筒形壳体内的最大薄 膜应力值相等。 (四)圆锥形壳体中的薄膜应力 1.圆锥形壳体的锥截面与 横截面不是同一截面,经向 薄膜应力与回转轴相交成α 角。 半锥角 横截面 2.圆锥形壳体上的薄膜应力 大端小端不同。 主平面:只作用正应力,没有剪应力。 主应力:主平面上的正应力。 ①最大拉应力理论(第一强度理论) 前提:最大拉应力 是引起材料脆断破坏 的因素 最大拉应力理论:当作用在构件上的外力过 大时,其危险点处的材料就会沿最大拉应力 所在截面发生脆性断裂。 (2)强度理论 前提:最大剪应力是引起材料屈服破坏的因 素。 最大剪应力理论:当作用在构件上的外力过大 时,其危险点处的材料就会沿最大剪应力所 在截面滑移而发生屈服破坏。 ②最大剪应力理论(第三强度理论) 回转壳体: 据第三强度理论: 按第三强度理论剪力的薄膜应力条件: 3.按第三强度理论建立的薄膜应力强度条件 一次弯曲应力强度条件: 二 对一次弯曲应力的限制 许应弯曲应力值 二次应力强度条件: 三 对二次应力的限制 材料屈服限的两倍 1.三种性质不同的应力,一次薄膜应力,一次弯曲应力,边界应力。 2.薄膜应力: (1) 和 (2)圆筒形壳体和圆球形壳体上各点薄膜应力相同,锥形壳体和椭球形壳体各点处的薄膜应力不相同。 本章小结: (3)四种壳体(筒、球、锥、椭)的最大薄膜力: 圆筒形和标准椭圆形壳体:K=1 球壳 圆锥形壳体:K=1/cosα (4)决定薄膜应力大小的因素:压强和截面几何量 δ/D () 3. 一次弯曲应力影响因素是(δ/D)2 4.二次应力产生的原因,二次应力和一次应力 的区别,二次应力的两个特性。 第七章 压力容器中的薄膜应力、 弯曲应力和二次应力 一 回转壳体的薄膜应力 二 圆形平板的弯曲应力 三 边界区内的二次应力 四 强度条件 第一节 回转壳体中的薄膜应力——薄膜理论简介 一 基本概念与基本假设 1 基本概念 容器:化工生产所用各种设备外壳的总称。(贮 罐、换热器、蒸馏塔、反应器、合成炉) 回转曲面:由任何直线或平面曲线为母线,绕其同平 面内的固定轴旋转3600而成的曲面。 (2)容器的几何特点 回转壳体:据内外表面之间,且与内外表 面等距离的面为中间面,以回转曲面为中 间面的壳体。 回转壳体的纵截面与锥截面 纵截面 锥截面 横截面 横截面 2.基本假设: (1)小位移假设。壳体受压变形,各点位移都小于壁厚。简化计算。 (2)直法线假设。沿厚度各点法向位移均相同,即厚度不变。 (3)不挤压假设。沿壁厚各层纤维互不挤压。 二 回转壳体中的拉伸应力及其应力特点 化工容器和化工设备的外壳, 一般都属于薄壁回转壳体: S / Di <0.1 或 D0 / Di 在介质压力作用下壳体壁内 存在环向应力和经(轴)向应力。 环向薄膜应力σθ: 在介质均匀的内压作用 下,壳壁的环向“纤维”受到拉伸,在壳壁的纵 截面上产生的环向拉伸应力。 经向薄膜应力σm:在介质均匀的内压作用 下,壳壁的经向“纤维”受到拉伸,在壳壁的锥 截面上产生的经向拉伸应力。 薄膜理论与有矩理论概念: 计算壳壁应力有如下理论: (1)无矩理论,即薄膜理论。 假定壳壁如同薄膜一样,只承受拉应力和压应力,完全不能承受弯矩和弯曲应力。壳壁内的应力即为薄膜应力。 (2)有矩理论。壳壁内存在除拉应力或压应力外,还存在弯曲应力。 在工程实际中,理想的薄壁壳体是不存在的,因为即使壳壁很薄,壳体中还会或多或少地存在一些弯曲应力,所以无矩理论有其近似性和局限性。由于弯曲应力一般很小,如略去不计,其误差仍在工程计算的允许范围内,而计算方法大大简化,所以工程计算中常采用无矩理论。 三 几种常见回转壳体上的薄膜应力 (一)圆筒形壳体上的薄膜应力 1 环向薄膜应力 作用在筒体纵截面上的 的合力T: 介质内压力p作用于 半个筒体
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