过程能力分析(计算PPK-CPK超经典超实用模板).xlsVIP

下载本文档

72
0
约7.54千字
约 2页
2022-09-15 发布于浙江
举报
版权申诉

过程能力分析(计算PPK-CPK超经典超实用模板).xls

1、本文档共2页，可阅读全部内容。
2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

CPK X-R \a \c \d \e \p \s \w AA AAA AB BBB CC Criteria Criteria_MI DATA Database_MI FFF PA PAM PP ppk PRINT_AREA_MI R_ REDATA1 REDATA10 REDATA11 REDATA12 REDATA13 REDATA14 REDATA15 REDATA16 REDATA17 REDATA18 REDATA19 REDATA2 REDATA20 REDATA3 REDATA4 REDATA5 REDATA6 REDATA7 REDATA8 REDATA9 SFX_Data SFX_WBData SFX_WBData_A_First SFX_WBData_A_Last SFX_WBData_B_First SFX_WBData_B_Last sigma SS Stdev TOPMENU TOPMENU1 TOPMENU2 TOPMENU3 TOPMENU4 TOPMENU5 TOPMENU6 TOPMENU7 TOPMENU9 WW xy xy YY 管制圖管制圖製程能力分析製程能力分析 X — R Control Map control map NO.： CPK07004-1/02 Product piece No. *** specification standard Size of each group control X map map manufacture Dept. Period 连续 Product name ST37-2/φ8*1.0 upper limit UCL Control item φ8(±0.10) central limitCL Total groups Group **机组 Sample method 随机 Measuring unit mm lower limit LCL Gauger ** Date Date/ time Total up Batch No. 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 ΣＸ＝ Sample measuring number determinant condition USL blue LSL red Ｎ＝ ΣＸ Average ＸＸ＝ R= x PPM control map Capabilities Std.Dev.= Sigma = ＰＰＫ= PP = Ca = ＣＰＫ= CP = Grade = Remark and reason tracking: n d2 D3 D4 A2 X UCL CL LCL USL LSL 过程能力分析 (Capabilities) 部门: 机组: 操作者: 日期: 产品: = Range 组界频率 Normal 总组数 (Sub Group) 总数 (Count) 平均值 (Average) 最小值 (Minimum) 最大值 (Maximum) 中位数 (Median) 子組数大小(n) 規格上限 USL 規格下限 LSL 控制上限UCL (X) 控制下限LCL (X) 其他标准差 (Std.Dev.) 标准差 (Sigma Hat) Description Value The limits are calculated as: Minimum Maximum delta 偏离(Skewness) Sigma Selected 峰度 (Kurtosis) Mean 预估不良率〈PPM〉(Out of Spec.) Delta LCL or UCL for X Ca Multiplier LSL or USL CPU 4*Sig+ Median CPL Cp Cpk ?2010?/?7?/?15 7.88927038626609 1.00 7.89 2.00 7.89 2.00 .00 1.00 7.89 2.00 6.71E-05 7.94 3.00 .00 25.00 =7.90927038626609 =7.88927038626609 2.00 7.91 7.91 .00 2.00 7.89 5.00 1.74E-04 7.94 37.80 .70 125.00 =7.92927038626609 =7.90927038626609 3.00 7.93 7.93 .00 3.00 7.90 5.00 4.33E-04 7.94 .00 8.00 =7.94927038626609 =7.