中空玻璃露点仪校准规范.docVIP

JJF（闽）××××－×××× PAGE 16 PAGE 1 中空玻璃露点仪校准规范 1 范围 本规范适用于中空玻璃露点仪的校准。 2 引用文件 本规范引用了下列文件： GB/T 11944—2012 中空玻璃 凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。 3 术语 以下术语和定义适用于本规范。 中空玻璃 insulating glass unit 两片或多片玻璃以有效支撑均匀隔开并周边粘接密封，使玻璃层间形成有干燥气体空间的玻璃制品。[GB/T 11944—2012,3.1] 4 概述 中空玻璃露点仪（以下简称露点仪）是一种用于测定中空玻璃内气体露点温度的仪器。根据制冷方式不同，主要分为半导体制冷式和干冰制冷式。 半导体制冷式中空玻璃露点仪主要由铜质测量面、制冷模块、温控模块以及冷水系统组成（图1为半导体制冷式中空玻璃露点仪示意图），其工作原理是采用半导体制冷方式使露点仪测量面在短时间内降至设定温度，通过温控模块自动控制温度并显示测量面的温度值。 干冰制冷式中空玻璃露点仪主要由铜座测量管和温度计组成（图2为干冰制冷式中空玻璃露点仪示意图），其工作原理是利用干冰与乙醇或丙酮混合而成的制冷液使铜座（即测量面）降温，通过调整干冰用量来控制温度，利用数字或玻璃液体温度计测量制冷液温度，即为露点仪温度。 图1 半导体制冷式中空玻璃露点仪示意图 图2 干冰制冷式中空玻璃露点仪示意图 5 计量特性 中空玻璃露点仪的计量特性要求见表1。 表1 中空玻璃露点仪计量特性要求 计量特性 半导体制冷式 干冰制冷式 示值误差 ±1℃ ±1℃ 稳定性 1℃/10min —— 注：以上指标要求不用于合格性判断，仅供参考。 6 校准条件 6.1 环境条件 6.1.1 环境温度：（23±2）℃；相对湿度：（30～75）%RH。 6.1.2 周围环境应无影响校准的冷热源、振动、电磁干扰、污染和腐蚀性气体等存在。 6.1.3 如果校准用设备规定了正常使用的环境条件，应符合其规定。 6.2 测量标准及其他设备 测量标准及其他设备技术要求见表2。 表2 测量标准及其他设备技术要求 露点仪类型 设备名称 技术要求 半导体制冷式 铜-铜镍热电偶及配套电测设备 1.热电偶为线径（含绝缘层）不大于0.5mm的露端式热电偶； 2.对铜-铜镍热电偶及其配套电测设备整体校准，其扩展不确定度U（k=2）应不大于被校露点仪最大允许误差的1/3。 干冰制冷式 二等标准铂电阻温度计及配套电测设备 1.测温范围（-80～30）℃； 2.配套电测设备引用修正值后的相对误差应不大于3×10-5。 恒温槽 1.温度范围（-80～30）℃； 2.工作区域水平温差≤0.05℃； 3.工作区域最大温差≤0.10℃； 4.温度波动度≤0.10℃/10min。 注：也可以选用扩展不确定度不大于被校露点仪最大允许误差1/3的其他测量标准。 7 校准项目和校准方法 7.1 校准项目 校准项目见表3。 表3 中空玻璃露点仪校准项目 校准项目 半导体制冷式 干冰制冷式 示值误差 ＋ ＋ 稳定性 ＋ － 注：“＋”表示应校准，“－”表示不校准。 7.2 校准方法 7.2.1 校准前准备 7.2.1.1 用目测的方法进行检查。露点仪的外观结构应完好，不应有影响测量准确度的缺陷，标牌内容（名称、规格型号、制造厂及出厂编号）应齐全。 7.2.1.2 半导体制冷式中空玻璃露点仪接通电源后，各部分的运行情况应正常。露点仪测量面在校准前应进行清洁处理，去掉影响测量准确度的污物。 7.2.1.3 干冰制冷式中空玻璃露点仪温度计为数字温度计时，通电状态下，显示应正常。 7.2.2 示值误差和稳定性 7.2.2.1 校准点的选择 校准点一般选取-60℃、-55℃、-50℃、-45℃、-40℃，也可根据用户需要选择校准点。 7.2.2.2 半导体制冷式中空玻璃露点仪示值误差和稳定性校准方法 将标准器测量端置于露点仪测量面中心位置，用胶带固定，使测量端与露点仪测量面紧密接触，然后用保温材料（如EPE板等）覆盖整个露点仪测量面，以重物压紧，使测量面能与保温材料紧密贴合，无明显空气缝隙。 接通露点仪的电源。露点仪温度由低往高逐点校准，设定温度，待露点仪第一次达到设定温度并稳定10min后，记录标准器和露点仪的读数。每隔1min记录1次，10min内共记录11次。 改变露点仪设定温度，重复上述操作，直至所有温度点均校准完毕。 7.2.2.3 干冰制冷式中空玻璃露点仪示值误差校准方法 将被校露点仪温度计与标准温度计插入恒温槽中（玻璃液体温度计应按规定的浸