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测量系统分析 Measurement System Analysis;第一章 测量系统根底;测量系统分析 ■为分析在各种测量和试验设备系统测量结果存在的 变差，必须进行适当统计研究。 ■此要求必须适用于在控制方案提出的测量系统。 ■所用的分析方法及接收准那么，必须与顾客关于测量 系统分析的参考手册相一致。 ■如果得到顾客批准，也可采用其它分析方法和接收 准那么。 ;1.测量系统分析的目的; ■测量定义为赋值〔或数〕给具体事物以表示它们之间 关于特定性的关系。这个定义由Ｃ．Eisenhart 1963〕首次提出。赋值过程定义为测量过程，而赋予 的值定义为测量值。 ■量具：任何用来获得测量结果的装置，经常用来特指 用在车间的装置；包括通过/不通过装置。 ■测量系统：是用来对被测特性定量测量或定性评价的 仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、 软件、人员、环境和假设的集合；用来获 得测量结果的整个过程。;3.量测过程;4.数据的质量;4.1低质量数据的原因和影响;5.测量过程;1)足够的分辨率和灵敏度。 2)是统计受控制的。 3)产品控制，变异性小于 公差。 4)过程控制: ▲显示有效的分辨率. ▲变异性小于制造过程变差.;部件A;6.1测量系统的有