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用于分析一种或多种粒子的检测系统.pdfVIP

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  • 2023-04-23 发布于北京
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用于分析一种或多种粒子的检测系统.pdf

    一种用于分析一种或多种粒子的检测系统，当控制器控制驱动装置使采样针位于吸样位时，采样针通过检测室与所述第一流体动力源连通，控制第一流体动力源提供动力使采样针在吸样位上吸取样品；在吸样之后，控制器控制驱动装置使采样针位于吸液位，采样针通过检测室与所述第一流体动力源连通，控制第一流体动力源提供动力使采样针在吸液位上吸取清洗液以清洗采样针。可见，本发明可直接将样品输送到检测室，无需暂存样品的“样品环路”，减少粒子损失；而且采样针吸样后，以吸取清洗液的方式来清洗采样针，简单快捷的实现了采样针的清洗。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113984721 A (43)申请公布日 2022.01.28 (21)申请号 20201

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