红外检漏技术在GIS带电检测中的应用与分析.docVIP

红外检漏技术在GIS带电检测中的应用与分析 目录 TOC \o 1-9 \h \z \u 目录 1 正文 1 文1：红外检漏技术在GIS带电检测中的应用与分析 2 一、红外检漏技术的原理 2 1.红外辐射成像检漏技术的原理 2 2.红外激光成像检漏技术的原理 2 二、ＧＩＳ带电检测的特点 3 1.发热区及泄漏区集中于局部 3 2.时常需要进行带电检测 4 二、红外检漏技术在GIS带电检测中的应用优势与不足 4 1.红外检漏技术在GIS带电检测中的应用优势 4 2.红外检漏技术在GIS带电检测应用中的不足 5 结束语 5 文2：后方交会在施工测量中的应用与分析 5 一、观测方法与基本原理 6 二、精度计算与分析 7 Mβ=2” 8 三等限差 9 ±28.3 9 ±23.48 9 ±12.78 10 ±20.87 10 -16.99 10 ±29.15 10 三、结束语 11 参考文摘引言： 11 原创性声明（模板） 12 正文 红外检漏技术在GIS带电检测中的应用与分析 文1：红外检漏技术在GIS带电检测中的应用与分析 一、红外检漏技术的原理 当下最常见的利用ＳＦ６气体的红外检漏技术主要有两大类，其一是以红外辐射成像为原理的检漏技术，其二是红外吸收激光成像为原理的检漏技术。 1.红外辐射成像检漏技术的原理 ＳＦ６气体溢出存储环境之后遇到空气即会产生ＳＦ６气体与空气的混合气体，而红外辐射成像检漏技术就是利用ＳＦ６气体对红外辐射能量的吸收作用。当红外辐射能量经过空气与ＳＦ６气体形成的混合气体时，ＳＦ６气体的能量吸收特性会使其吸收的能量大大多于空气所吸收的能量，所以在空气中经过的红外辐射能量会强于在ＳＦ６气体中经过的红外辐射能量。因此，红外辐射能量被发出后，在红外辐射成像检漏设备的成像仪中形成的回馈图像会清晰的反映出空气中吸收能量的多少，尤其在利用红外辐射成像检漏设备进行大范围检测时，由于ＳＦ６气体与空气吸收红外辐射能量的强度差异较大，所形成红外成像的颜色深浅也有较大不同，操作人员在使用红外辐射成像检漏技术进行检测时，能即为快速的辨认出泄漏源，从而及时对泄漏源进行补救。 2.红外激光成像检漏技术的原理 与红外辐射成像检漏技术的原理相似，红外激光成像检漏技术的原理也是利用ＳＦ６气体的特性。ＳＦ６气体对于长波红外线具有较强的吸收能力，所以在红外激光能量和ＳＦ６气体相遇时，红外激光能量中的大部分会迅速被ＳＦ６气体吸收，而经过ＳＦ６气体的红外激光能量会明显变少、强度也迅速变弱。因此，在使用红外激光成像检漏技术进行ＳＦ６气体的检漏时，检漏设备所散发的大部分激光能量在遇到空气中逸散的ＳＦ６气体时将被迅速吸收，而同时返回到红外激光成像检漏设备中的激光能量会大大减弱。且由于普通空气对激光能量的吸收作用较弱，所以依靠激光能量来检测ＳＦ６气体的泄露情况时，所得出的结果是较为准确的。另外，在红外激光成像检漏设备的成像系统中，泄露的ＳＦ６气体将呈黑色烟雾状，其显示出的颜色越深、激光成像所显示出的对比度越大，则ＳＦ６气体泄露越多、浓度也越大。 二、ＧＩＳ带电检测的特点 ＧＩＳ设备是为储存ＳＦ６气体而设计的，而ＳＦ６气体具有较大的毒性，而ＧＩＳ设备的密封性较不稳定，一旦有较大的外力冲击或认为操作不当，极易使ＧＩＳ设备中所储存的ＳＦ６气体发生泄漏。最为重要的是，一旦空气中ＳＦ６气体含量超过一定程度，极易使操作人员及工作人员窒息甚至死亡。另外，ＧＩＳ设备与其他半封闭的开关设备相比，结构较为紧凑，所以大部分检测设备在进行检测时难以一次完成。 1.发热区及泄漏区集中于局部 在进行ＧＩＳ设备的检测时，由于其设备的结构较为紧凑且复杂，所以红外检测设备大多无法一次检测完成，同时大部分的发热区以及ＳＦ６气体泄漏区都集中于范围较小的几处，所以在对其进行检测时需要通过反复且精准的排查，直到确认所有的发热区以及泄漏点位置。而ＧＩＳ设备发热的原因大部分是由外壳接触不良或外壳散热环流运行不畅而引发的，所以其中需要特别注意的位置如伸缩节部位、跨接铜牌以及接地铜排和支撑构架等部位。 另外，威胁ＧＩＳ设备正常运行的主要原因是微渗现象，即ＳＦ６气体微量且缓慢地向外泄露，但微渗现象在ＧＩＳ设备运行中属于较为常见的现象，如充气口、管道及压力表密封部位等都极易发生微渗现象。同时，由于金属极易受到气温的影响而发生热胀冷缩，所以微渗现象在气温年较差较大或季节气温差大的地区更为普遍，在这些地区ＧＩＳ设备往往会出现较大的泄漏点，甚至会出现焊缝脱落的现象，如不定期对ＧＩＳ设备进行重点排查将带来较大的安全隐患。 2.时常需要进行带电检测 带电检测是ＧＩＳ设