IGBT模块内部芯片结温测量系统、测量方法及IGBT模块.pdfVIP

下载本文档

1
0
约8.07千字
约 7页
2023-06-13 发布于四川
举报
版权申诉

IGBT模块内部芯片结温测量系统、测量方法及IGBT模块.pdf

1、本文档共7页，其中可免费阅读6页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明提供了一种IGBT模块内部芯片结温测量系统、测量方法及IGBT模块；测量系统包括测温装置和设置于IGBT模块内部芯片上方的凸透镜，测温装置包括感温器件和测温电路，感温器件设置于凸透镜上方，并且位于所述凸透镜的焦点。测温方法包括：所述凸透镜将收集IGBT模块内部芯片的热辐射，并聚焦到感温器件上；根据芯片实际温度和感温器件指示温度的对应关系，得到IGBT模块内部芯片温度值。本发明所述的测量系统基于辐射传热原理将IGBT模块内部芯片发热通过凸透镜聚焦到感温器件，然后利用测温电路测量感温器件的温度

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113092974 A (43)申请公布日 2021.07.09 (21)申请号 201911314443.7 (22)申请日 2019.12.19 (71)申请人广州汽车集团股份有限公司

您可能关注的文档

文档评论（0）

知识产权出版社 + 关注: 官方认证

文档贡献者

知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来，知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作，经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。

咨询Ta 进入空间

认证主体北京中献电子技术开发有限公司

IP属地四川

统一社会信用代码/组织机构代码: 91110108102011667U

1亿VIP精品文档

更多 >

IGBT模块内部芯片结温测量系统、测量方法及IGBT模块.pdfVIP