红外测温原理及其应用.pptVIP

6 红外照相法 测温装置安装于车床横溜板的机座板上，使刀具、照相机相对于工件排成一线；照相机配有专门的红外辐射聚焦调节装置；刀夹可使照相机镜头尽可能接近工件表面，为避免切屑溅射的影响，照相机镜头用有机玻璃罩子罩住，镜头与工件表面之间设计了挡屑板，透过板上的小孔可对刀具和工件表面摄影（采用高温红外胶卷）。 目前三十页\总数八十页\编于九点 6 红外照相法 测量温度前，首先用热电偶进行定标校准，即热电偶由电加热并在不同温度下照相，所需曝光时间通过预试验确定，显影后的胶卷用显微光密度计读数，得到高温红外胶卷在不同曝光时间下光密度与温度的对应关系。根据此对应关系，可以确定切削过程中工件或刀具的温度。 用红外照相法测定的切削温度可用于研究切削温度的分布情况。 红外照相法近距离但非接触测量，所以可以用来测量薄壁圆筒回转件。 目前三十一页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率 随发射率变化(非灰体) = 0.9 (灰体) 相对能量 波长 (微米) = 1.0 (黑体) ? ? ? 发射率为物体的辐射度和与该物体具有相同温度的黑体的辐射度之比 ? 目前三十二页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率 发射率决定了实际物体的红外辐射特性 “理想黑体” “实际物体” 既是完全吸收体 也是完全发射体 部分能量被反射 部分能量透过 发射率 =1 发射率 1 I I I I R A T E E E E 目前三十三页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率的分类 材料发射率按光谱范围分为全波发射率、光谱发射率和在某光谱范围的积分发射率。根据辐射方向不同分为半球发射率和定向发射率等；定向发射率中应用最多的是法向发射率。 这些不同的划分可以组合出多种不同发射率参数。常见的发射率有四种： 半球全波发射率为物体的辐射出度与同温度下黑体的辐射出度之比。 ? 目前三十四页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率的分类 定向全波发射率为物体在指定方向的辐射亮度与同温度下黑体的辐射亮度之比。 半球光谱发射率为物体的光谱辐射出度与同温度下黑体的光谱辐射出度之比。 ? ? 目前三十五页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率的分类 定向光谱发射率为在指定方向的物体的光谱辐射亮度与同温度下黑体的光谱辐射亮度之比。 光谱发射率通常多指定向光谱发射率，即在指定方向上物体的光谱辐射亮度与同温度下黑体的光谱辐射亮度之比。 ? 目前三十六页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率的设定 按照测量物理量划分，发射率测量方法可分为两大类：直接测量方法和间接测量方法。 直接确定物体的发射率的方法统称为发射率的直接测量方法。 直接测量法即直接利用定义式，以黑体或已知反射率标准样品为参考标准建立装置，测量物体或材料的辐射量信号与同样条件下的黑体之比为发射率。 直接测量法又可以分为量热法和辐射测量法。 目前三十七页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率的设定 量热法为通过测量样品表面的辐射能量利用能量平衡得到发射率，一般多用于半球积分发射率的测量。由于其需要精确知道表面的辐射热量，对环境（一般要抽真空）、控温和测温水平要求较高，测量时间长，而且能量平衡状态的不容易确定和保持也为测量带来困难。因此一种同样基于量热法的非稳态方法提出，即温度衰减法。 目前三十八页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率的设定 温度衰减法是将一个表面积较大而质量很小的样品悬挂在具有冷却内壁的真空室内，并加热到显著高于室内壁温度后停止加热，测量样品冷却速度。从冷却速度和已知材料样品的表面积、质量、比热计算辐射热损耗速度，从而求出半球积分发射率。 目前三十九页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率的设定 辐射计法是直接利用发射率定义，以黑体或标准样品为参考标准建立装置，测物体或材料的发射率。这种方法的好处是直接利用了发射率的定义式，得出物体或材料的发射率，物理意义明确、简单，避免了其他方法在计算推导发射率过程中引入其他参数不确定度的影响。但同时它的难点是待测样品表面的温度很难测准，即很难保证黑体和待测样品处于同一温度。 辐射计法多用来测量定向发射率。 目前四十页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 ? 目前四十一页\总数八十页\编于九点 7 红外测温注意事项 发射率的设定 以上这种通过测量反射率得到发射率的方法统称为发射率的间接测量方法，一般应用于对低温样品的发射率测量。 根据样品表面特性又可分为对镜面反射样品和漫反射样品的测量。对于漫反射样品，一般应用积分球法，通过先测得材料的反射率，然后根据不透明物体发射率同反射率的关系和已知发射率标准样品的发射率，求得待测材料的发射率。