2023年材料现代分析方法复习题学生2023年28-部分答案.docx

材料现代分析复习题前八单元总结 一、填空题 1、影响透射电镜区分率的因素主要有：衍射效应和电镜的像差〔球差、像散、色差〕等。 2、透射电子显微镜的照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调整装置组成。它的作用是供给一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。它应满足明场和暗场成像需求。 3、透射电子显微镜的成像系统主要是由物镜、中间镜和投影镜组成。 4、 当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 特征谱 X 射线和 连续谱X 射线。 5、 X 射线与物质相互作用可以产生 散射、入射、透射、吸取 6、 经过厚度为 H 的物质后，X 射线的强度为IH=I0exp(-μH) 。 7、X 射线的本质既有波动性,也是粒子性，具有 波粒二象性。 8、 短波长的X 射线称硬X 射线，常用于 衍射分析 ；长波长的 X 射线称软X 射线，常用于 荧光分析 。 9、 德拜相机有两种，直径分别是 57.3mm 、114.6mm。测量 θ 角时，底片上每毫米对应 2 o 和 1o。 10 扫描电子显微镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子 。 11、衍射仪的核心是测角仪圆，它由试样台、辐射源和探测器 共同组成。 12、 可以用作 X 射线探测器的有气体电离计数器、闪耀计数器、半导体计数器等 13、 影响衍射仪试验结果的参数有狭缝宽度、扫描速度和时间常数等。 14、 X 射线物相分析包括 定性分析 和 定量分析 ，而 定性分析 更常用更广泛。 15、 第一类应力导致 X 射线衍射线 峰线偏移〔衍射线条位移〕 ；其次类应力导致衍射线 峰线宽化(线条变宽)；第三类应力导致衍射线衍射强度降低 。 16、倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 法线 ，倒易矢量的长度等于对应正空间 晶面间距的倒数 。 17、X 射线物相定量分析方法有 外标法〔单线条法〕、内标法 、 K 值法、直接比较法 等。 18、TEM 中的透镜有两种，分别是 磁透镜 和 电透镜 。 19、TEM 中的三个可动光栏分别是其次聚光镜光栏位于其次聚光镜焦点上，物镜光栏位于 物镜的背焦面上， 20、物相分析需要确定材料的 物相组成和物相含量。 21、透射电镜主要由照明系统 、成像系统和观看记录系统；关心局部由真空系统、循环冷却系统和掌握系统组成。 22、 影响 X 射线衍射强度的因素除了构造因子外，还有角因子、吸取因子、多重性因子和 温度因子等。 23、透射电镜由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统和电器系统组成。 24、TEM 成像系统由物镜、中间镜和投影镜与样品室构成组成。 25、TEM 的主要组成局部是照明系统、成像系统和观看记录系统；关心局部由真空系统、循环冷却系统和掌握系统组成。 26、 电磁透镜的像差包括球差、像散、色差。 27、电子衍射和 X 射线衍射的不同之处在于电子散射强度大导致摄谱时间短 不同、电子屡次衍射导致电子束强度不能被测量 不同，以及电子波长短导致的布拉格角小 不同。 28、电子束与固体样品相互作用可以产生背散射电子、二次电子、吸取电子、俄歇电子 、 特征 X 射线 、 透射电子 、可见光 等物理信号。 29、扫描电子显微镜的放大倍数是显示屏的扫描宽度与样品上的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、凸起的棱角是亮衬度，而裂纹、凹坑则是暗衬度。 30、影响衍射强度的因素除构造因素、晶体外形外还有:角因素,多重性因素,温度因素、试样对 X 射线的吸取。 31、X 射线光电子能谱是以单色 X 射线 为光源、激发样品中原子 内 层电子，产生光电子放射的能谱。 32、德拜照相法中的底片安装方法有正装法、 倒〔反〕装法 和不对称法〔偏装法〕三种。二、选择题 用来进展晶体构造分析的 X 射线学分支是〔 B 〕 A.X 射线透射学；B.X 射线衍射学；C.X 射线光谱学；D.其它 M 层电子回迁到 K 层后，多余的能量放出的特征 X 射线称〔 B 〕 A. Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。 当 X 射线发生装置是 Cu 靶，滤波片应选〔 C 〕 A． Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。 8．有一倒易矢量为 g? ? 2a ? ?2b ? ?c ?，与它对应的正空间晶面是 ( C ) A ．〔210〕 B．〔220〕 C．〔221〕 D．〔110〕 当电子把全部能量都转换为 X 射线时，该 X 射线波长称〔 A 〕 短波限 λ0；B. 激发限 λk；C. 吸取限；D. 特征X 射线 当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后，L 层电子回迁 K 层，多余能量将另一个 L 层电子打出核外，这整个过程将产生〔 D 〕 A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. 〔A+C〕 9．测定钢中的奥氏体含量，假设承受定量