SJ 11166-1998集成电路卡（IC卡）插座总规范.pdf

L 24备案号J中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11166 - 1998集成电路卡(IC卡)插座总规范Generic specification for socketsfor integrated circuit(s) card(IC card)1998-03-11发布1998-05-01实施中华人民共和国电子工业部发布 前言本标准适用于集成电路卡（IC卡）插座。IC卡插座是信息系统中的读卡器与IC卡的接口元件。为了和国际上的有关技术接轨，以适应国际贸易、技术和经济交流的需要，本标准特别规定，本标准认准所适用的插座，其适用的IC卡应符合ISO78161：1987《识别卡带触点的集成电路卡第1部分：物理特性》所规定的定义。这一规定所涉及的有关标准，限定了插座的接口配合尺寸应符合有关的ISO标准的规定。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准的负责起草单位为江苏惠通集团有限责任公司。参如起草的单位为电子部标准化研究所、电子部第四十所、上海安普连接器有限公司、国营第七九九厂、永宁电子元件厂。本标准主要起草人：蒋瑞玲、钮金成、蒋永南、李传龙、余樵杨、长福、蒋友嘉。 中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11166 - 1998集成电路卡（IC卡）插座总规范Generic specification for socketsfor integrated circuit(s) card(IC card)1 范围本规范规定了集成电路卡（IC卡）插座的一般要求、试验方法及检验规则。本规范适用于集成电路卡（IC卡）插座（以下简称插座）。而插座所适用的集成电路卡（IC卡，以下也简称卡）应符合ISO07816一1所规定的定义。2引用标准下列标准所包含的条文，通过在本规范中引用而构成为本规范的条文。在标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本规范的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。包装储运图示标志GB 191--90电工电子产品基本环境试验规程总则GB 2421—89电工电子产品基本环境试验规程试验KC：接触点和连接件的二GB 2423.19—81氧化硫试验方法电工电子产品基本试验规程试验Kd：接触点和连接件的硫化氢GB 2423.20--81试验方法电工电子产品基本环境试验规程试验U：引出端及整体安装件强GB 2423.29—82度GB 2828--87逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）周期检查计数抽样程序及抽样表（适用于生产过程稳定性的检查）GB 2829---87GB 5095.2—86电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分：一般检查、电连续性、接触电阻测试、绝缘试验和电应力试验电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分：动态GB 5095.4—86应力试验电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分：撞击GB 5059.586试验（自由元件）、静负荷试验（固定元件）、寿命试验和过负荷试验GB 5095.6---86电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第六部分：气侯试验和锡焊性试验电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第七部分：机械GB 5095.7---861998-05-01实施中华人民共和国电子工业部1998-03-11批准1 SJ/T11166-1998操作试验和密封性试验各种电气装置和设备中零部件用塑料材料的可燃性试验标准SJ/Z 9132—87识别卡带触点的集成电路卡第1部分：物理特性ISO 7816-1 :19873分类及型号组成3.1分类插座可按接触型式、卡到位开关型式、卡的操作型式等要素进行分类。插座的接触型式可分为滑动式、起落式等；插座的卡到位开关型式可分为常闭式、常开式；插座可按卡的操作型式分为推拉式、推推式、推弹式、推自弹式等。除上述型式外，在详细规范中可以补充其它型式。分类所涉及的术语，其定义见附录A。3.2型号组成插座的型号组成见附录B。4要求和试验方法4.1试验的标准条件除非另有规定，所有试验应在GB2421中所规定的“试验的标准大气条件”下进行。测量前，插座应在试验的标准大气条件下放置24h，进行预处理。4.2材料和加工质检验4.2.1外观插座应按GB5095.2的试验1a：外观检查规定的方法进行检查。插座应以良好的材料和正常工艺进行制造和加工。4.2.2尺寸插座触点的位置和接触范围应符合图1的规定，其余尺寸应符合有关详细规范的规定。插座与卡的接口尺寸按GB5095.2的试验1b：尺寸和重量检查”规定的方法进行检查，通常只需要检查一个样品的尺寸就已足够。2- SJ/T11166-199823. 897. 622.54卡到位线由的4-由中由心1.59maxXBuSL T图14.3机械试验4.3.1插入力和拔出力插座应按GB5095