YDT 1690.6-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz～1GHz） 第6部分：传导发射测量 磁场探头方法.pdf

ICS 33 100 10L 06YD中华人民共和国通信行业标准YD/T 1690.6-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz～1GHz）第6部分：传导发射测量磁场探头方法Interior of Telecommunication Equipment-Measurement ofElectromagnetic Emissions-150kHz to 1GHzPart 6:Measurement of Conducted Emissions-Magnetic Probe Method(IEC 61967-6:2002-06 Integrated Circuits-Measurement ofElectromagneticEmissions,150kHz to 1GHzPart 6: Measurement of Conducted Emissions-Magnetic Probe Method,MOD)2007-09-29 发布2008-01-01实施中华人民共和国信息产业部‧发布 YD/T 1690.6-2007目次前 1范围·规范性引用文件23定义和缩略语·4概要·5试验条件6　试验设备7 试验布置8　试验程序·9试验报告·附录A（规范性附录）探头校准程序附录B（资料性附录）测量原理和校准因子附录C（资料性附录）磁场探头的空间分辨率·4附录D（资料性附录）磁场探头的定位角度4 YD/T 1690.6-2007前言本部分是YD/T1690.1~6-2007《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）》标准之一，该标准包括以下部分：1．YD/T1690.1-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第1部分：通用条件和定义2．YD/T1690.2-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第2部分：辐射发射测量TEM小室和宽带TEM小室方法3．YD/T1690.3-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第3部分：辐射发射测量外表扫描方法4．YD/T1690.4-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第4部分：传导发射测量1Q/1502直接耦合方法5．YD/T1690.5-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第5部分：传导发射测量法拉第笼方法6．YD/T1690.6-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第6部分：传导发射测量磁场探头方法本部分是该部分标准的第6部分。本部分修改采用了IEC61967-6《集成电路-电磁骚扰的测试方法，150kHz~1GHz第6部分：传导骚扰测量-磁场探头法》，与原标准相比做了一些结构性的调整。本部分的附录A为规范性附录，附录B、附录C和附录D为资料性附录。本部分由中国通信标准化协会提出并归口。本部分起草单位：信息产业部电信研究院本部分主要起草人：刘宝殿、屈鹏飞、齐殿元、王洪博、肖雳+ YD/T 1690.6-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第6部分：传导发射测量磁场探头方法1范围本部分规定了用微型磁场探头以非接触的电流测量方式来测量集成电路（IC）的管脚的射频电流的方法。本方法可以在 150 kHz~1GHz 频率范围内测量由 IC产生的射频电流。本部分适用于单个IC的测量或者用于标准测试板上的IC 芯片组的描述和比较。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。电工术语 电磁兼容GB/T 4365-2003YD/T 1690.1-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kHz~1GHz）第1部分：通用条件和定义YD/T 1690.4-2007电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kHz~1GHz）第4部分：传导发射测量1Q/1502直接耦合方法3定义和缩略语GB/T4365、YD/T1690.1-2007中的定义和电磁兼容术语也适用于本部分。4概要4.1测量基础PCB的辐射发射，部分是由电路板上的集成电路产生的射频电流造成的，包括PCB走线和PCB电源地平面以及连接到PCB的线缆。所有这些都可以作为射频天线来进行辐射发射。发射电平与驱动的射频电流是成比例的，同时也受PCB的设计、伪天线的辐射效能以及从IC到伪天线的噪声耦合路径系数的