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光学实验中不等精密度测量的设计与数据处理 1 不等精密度测量实验设计与处理 由于实验中非等精密度的测量是很常见的，但在当前的基础工程实践中，这一点的强调是不够的。随着非确定性知识在工程实践和教学中的应用研究，培养学生处理不同精密度测量结果的能力非常可能。因此，许多实验的设计和数据处理都不应该回避测量不同的事实。在这项工作中，我们以分光仪测量的结果为例，研究了在设计和数据处理方面的不同准确度测量。 2 实验方法及仪器 在实际操作中,虽然对仪器进行细调,但是由于仪器调整精度和操作者的能力有限,严格意义上讲平行光仍以较小的角度斜入射至光栅,令φ为平行光与光栅法线的入射角绝对值,θ+和θ-分别为光栅法线两侧同一级光谱衍射角的绝对值,则有 sinφ-sinθ-=-kλd,sinφ+sinθ+=kλd,(1)sinφ?sinθ?=?kλd,sinφ+sinθ+=kλd,(1) 两式相减,并考虑到|θ+-θ-|=φ有 sinθ++θ-2cosφ2=kλd,(2)sinθ++θ?2cosφ2=kλd,(2) 当φ很小时,cos (φ/2)≈1,因此 sinθ++θ-2=kλd.(3)sinθ++θ?2=kλd.(3) 所以在实验中只要测量对应正负级光谱之间的方位角之差,同时在实验装置调节时,应该尽可能保证实验在平行光垂直入射时进行,就可以减小这一系统误差对测量结果的影响. 分光仪的读数装置是由刻