空调空调冷加工过程中不锈钢构件的腐蚀与织构演变.docxVIP

空调空调冷加工过程中不锈钢构件的腐蚀与织构演变 0 不锈钢缺陷的原位监测 通过对材料加工和使用过程中的失败分析，我们可以提供有价值的材料信息，并找到故障解决的解决方案。发生失效的成因很多, 包括金属疲劳、腐蚀、生产过程中产生的缺陷, 使用中的磨损以及维护或使用不当等。 作为最常见的缺陷分析手段之一, 断口分析和金相分析能提供很多有价值的信息, 但不能提供晶体学、织构和应力分布信息。为了获得缺陷处应力分布、微观织构变化或未知颗粒相鉴定等原位信息, 必须要借助特殊的工具——电子背散射衍射 (EBSD) 分析技术, 此技术在区域信息的获得方面更具有优势。本研究的目的是通过应用EBSD技术研究不锈钢失效构件缺陷局部织构变化及应变分布信息, 寻找构件形变部位内表面发生选择性点腐蚀的腐蚀机制。同时, 还将讨论应变与晶粒取向差的关系和表征方法。 1 材料的拉伸和拉伸 Ryde等研究发现, 应变和晶粒取向差的之间存在一定程度的线性关系。报道指出, 线性关系在拉应变不超过20%区间内都是存在的。但材料服役实际过程中, 应变往往更高。例如, 过载情况下, 不仅要考虑50%工程应变区间情况下应变和晶粒取向差的关系, 更要考察失效合金构件如奥氏体304L不锈钢对这种关系的适用性。 样品均取自AISI奥氏体304L不锈钢, 经激光切割成1 mm厚备用。拉应变样品经不同拉伸程度直至50%工程应变, EBSD分析用样品切取自中央应变区域, 截面样垂直于拉伸轴取得, 经机械抛光后用85%冰醋酸和15%高氯酸的混合电解液电解抛光处理。 样品的平均晶粒度约22 μm。EBSD数据由CamScan S4 FEG SEM系统采集获得。为了确定晶粒取向, 采集了1 mm2面积内的晶体织构变化, 采集步长5 μm, 扫描方式为电子束和样品台共同扫描。晶粒取向采集步长分别为3 μm、1 μm和0.5 μm。 图1是极图强度与工程应变的对应关系, 极图来自5 μm步长的采集数据。从图中可以看出随着应变值的增大, 织构强度同步加强。 图2显示工程应变率与平均晶粒取向差的关系, 从图中可以观察到, 2%～10%和10%～30%范围内存在一定的线性关系, 大于30%后未观察到规律性的关系。图中曲线由实验获得, 包括数据采集步长及确定平均晶粒取向差的数据后处理等。必须指出, 每个参数的变化都会导致不同的结果, 因此在将其应用到应变时, 各种参数在选定后不能再更改。 2 折外表面未发现腐蚀 图3 (a) 和3 (b) 是304L奥氏体不锈钢板弯折制成商用烤箱架, 发生点蚀后的光学宏观形貌图。该烤箱架刚使用了4个多月, 弯折内表面已发生选择性点蚀, 如图3 (a) 所示。弯折外表面未发现腐蚀存在, 如图3 (b) 所示。造成点蚀的原因可能有以下几种: (1) 内表面冷凝物残留; (2) 氧化皮物理或化学特性; (3) 残余应力; (4) 晶体织构或以上各机制综合所致。 点蚀不大可能是凝结物所致, 因为折弯的一边是水平的, 点蚀应该在弯折整个内表面弥散分布。本研究未进行氧化皮的性质表征, 但在点蚀区域EDS分析中发现氯元素的存在。 通常用X射线衍射法来测定样品的残余应力, 但本文样品很难获得衍射数据。同样在点腐蚀区域用X射线法获得微观区域的织构信息也是相当困难的。因此, 本研究采用EBSD分析法对弯折区域截面的应变和织构进行表征。 3 硅用抛光 从不锈钢架截取样品, 经镶嵌、研磨、机械抛光后, 采用硅乳胶抛光。图4 (a) 是弯折处的SEM低倍电子背散射图, 在图4 (b) 高倍图中可明显看到大变形, 折弯内部存在裂缝, 见图4 (a) 。 4 拉应力区的点蚀 EBSD采集自机械抛光样品表面。完成3次贯穿整个截面的扫描A, B和C。A和B采集自变形区域 (图5) , C采集自远离弯折变形的区域。以上各区域的平均错位分布图见图5 (a) , 5 (b) 和5 (c) , 图中清晰演绎了A, B和C区域的应变分布。截面的应变对比见图5 (d) , 应变峰值为A区的折弯表面, 约为30%。尽管上下表面的最大应变接近, 但处于压应变的区域面积比处于拉应变的区域面积小。内外两侧表面的应变相差不大, 可以推断弯折内表面点腐蚀并非全部由应变导致, 因为外表面存在同样的应变。应力不能由EBSD数据获得。 图6 (a) , 6 (b) 和6 (c) 分别是样品处于拉应力区域、中心区域和压应力区域的EBSD极图。拉应力区域主要是黄铜织构{011}211 (图6 (a) ) , 压应力区域主要是铜织构{112}111 (图6 (b) ) , 中心区域是以上两种组分的混合织构, 正如未弯折变形区域的织构特征。 图7中给出了A, B, C区域关于黄铜织构、铜织构、高斯织构{011}100及立方织构{100}00