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zenke多项式拟合波面的选择 zerik多项式结构与原始图像有一定的对应关系，易于与光学设计中使用的seidl图像差异函数相结合。在实际的光学试验中，数据波前通常由不同的波像差混合。通过zearik多项式匹配，可以简单地获得各种波像差的具体数据量，这有利于进一步的数据处理，这为有效处理不同的成像差异系数提供了途径，优化系统的性能。 文中用Zernike多项式拟合高次非球面, 研究了Zernike多项式在拟合干涉波面时阶次的选择对拟合精度的影响, 以及正确选取拟合波面所需的Zernike多项式的阶次后, 被拟合波面数据采样点的多少对拟合精度的影响和采样点数的高低是否是提高拟合精度的先决条件。 1 法微分方程的求解 波面拟合是选择一个线性无关的基底函数系的组合W (x, y) 来拟合离散波差函数w (xi, yi) , 由连续的W (x, y) 函数表征被测系统的面形。 将被测波面用n项Zernike多项式表示为 其中, q= (q1, q2, …, qn)T为Zernike多项式系数;Z=[Z1(x, y) , Z2(x, y) , …, Zn(x, y) ]为n项Zernike多项式。 现有m个离散数据点wi(xi, yi) , i=1, 2, …, m。令aij=Zj(xi, yi) , i=1, 2, …, m;j=1, 2, …, n。代入式 (1) 得到矛盾方程组 (m