嵌入式系统设计师 历年试题解析.docxVIP

嵌 入 式 系 统 设 计 师 历 年 试 题 解 析 本 复 习 题 页 码 标 注 所 用 教 材 为 ： 嵌入式系统技术 嵌入式系统技术 张晓林 2008 年 10 月第 1 版 高等教育出版社 如学员使用其他版本教材，请参考相关知识点 一、判断题（共 10 小题，每小题 2 分，共 20 分，正确的打“√”，错误的打“×”。） 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 嵌入式系统调试通常可以分为硬件级调试和在线仿真器调试。考核知识点：嵌入式系统调试，参见P47 在 ARM 处理器中，快速中断（FIQ）的优先级高于外部中断（IRQ）。考核知识点：ARM 处理器，参见P62 ROM 能够永久或半永久地保存数据，ROM 内的数据永远不会丢失。考核知识点：存储器特点，参见P131 内建测试系统(BIST)是 SoC 片上系统的重要结构之一，JTAG 测试接口是 IC 芯片测试方法的标准。考核知识点：嵌入式系统测试，参见P43 VHDL 的基本单元描述不包括库。 考核知识点：SOC 主要设计语言，参见P233 嵌入式 ARM 架构的嵌入式处理器同时支持大端、小端（Big/Little-Endian）数据类型。考核知识点：嵌入式ARM 架构的嵌入式处理器，参见P16 嵌入式操作系统通常采用整体式内核或层次式内核的结构。考核知识点：嵌入式操作系统内核，参见P249 ARM7TDMI