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基于微分干涉的应变测量系统的中期报告 1. 研究背景 微分干涉技术是一种高精度、高灵敏度的光学技术，可以用于测量光路长度变化，广泛应用于应变测量、位移测量、振动测量等领域。基于微分干涉的应变测量系统，可以用于实时监测结构的变形情况，采集结构变形数据，分析并评估结构的稳定性和安全性。 2. 研究目的 本研究旨在建立基于微分干涉技术的应变测量系统，实现对结构变形情况的实时监测和数据采集，并分析结构的稳定性和安全性。 3. 研究内容 （1）系统组成：本研究的应变测量系统由光源、激光干涉仪、光纤、变形测试结构和数据采集与分析系统组成。 （2）系统原理：采用双光路微分干涉法，利用激光干涉仪测量光程差，通过光纤连接测试结构，实时监测结构的变形情况，并将数据传输至数据采集与分析系统进行处理。 （3）系统实验：进行系统的实验，利用已知的载荷对测试结构施加加载，采集并分析数据，验证系统的可行性和精度。 4. 研究成果 （1）建立了基于微分干涉技术的应变测量系统； （2）实现了对结构变形情况的实时监测和数据采集； （3）分析了测试结构的稳定性和安全性，为进一步的结构设计和优化提供基础数据。 5. 研究展望 本研究将继续优化系统精度和稳定性，扩展应用领域，探索微分干涉技术在结构工程领域的应用前景。