第七章原子力显微镜分析.pptVIP

第七章原子力显微镜; 一.引言 因为扫描隧道显微镜只能观察导体和半导体的表面构造，对于非导电材料必须在其表面覆盖一层导电膜。导电膜的存在往往掩盖了样品的表面构造的细节。为了弥补扫描隧道显微镜的这一不足，1986年Binnig、Quate和Gerber发明了第一台原子力显微镜（AFM）。 原子力显微镜是将一种对单薄力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品的表面轻轻接触，因为针尖尖端原子与样品表面原子间存在极单薄的作用力（斥力10-8～10-6N或范德瓦尔斯力），经过扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将相应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法和隧道电流检测法，能够测得微悬臂相应于扫描各点的位置变化，从而能够取得样品的表面形貌信息。;二. 特点：;原子间范德瓦尔斯力和距离的关系;三. AFM 的构造及工作原理;（一）隧道电流法检测的原子力显微镜;1. 构造构成;2.原子力显微镜的工作原理;（二）光学偏转法检测的原子力显微镜;1.1 力检测部分;1.2 位置检测部分;1.3 反馈系统;2.光学偏转法检测的原子力显微镜的原理;三.AFM 操作模式; 将一种对单薄力极敏感的微悬臂的一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触。因为针尖尖端原子与样品表面原子间存在极单薄的排斥