- 39
- 0
- 约8.78千字
- 约 9页
- 2023-10-21 发布于四川
- 举报
本发明属于晶圆级封装技术领域,具体公开了一种TSV/TGV微通孔金属化方法,具体包括:清洗衬底材料保持衬底表面洁净;将衬底材料烘干后打孔,打孔完成后再进行清洗烘干;对衬底材料表面以及通孔进行绝缘层的沉积;对衬底材料表面以及通孔进行阻挡层和种子层的沉积;将衬底材料放入浸润槽中,然后对浸润槽进行抽真空,持续时间为20‑60min,直至衬底表面没有气泡产生;设置多段电流密度和时间进行电镀。本发明通过设置多段电流密度和时间,调整通孔两端的电力线密度,精准控制桥连位置,完成多种方法的部分实心填充。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116913861 A
(43)申请公布日 2023.10.20
(21)申请号 202310899435.3
(22)申请日 2023.07.21
(71)申请人 厦门大学
地址 361000
原创力文档

文档评论(0)