- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
附件:
数字化医用X射线拍照系统拍照影像质量要求及试验方法
一、数字化医用X射线拍照系统拍照影像质量要求
1、空间分辨率
产品标准中应规定在标称有效成像地区下有衰减体模和无衰减
体模状况下的空间分辨率及丈量时的加载要素组合。在厚度为20mm
的铝(纯度大于99.5%)衰减体模状况下空间分辨率应不小于
2.0lp/mm。
2、低对照度分辨率
产品标准中应规定低对照度分辨率的最小值及丈量时的空气比
释动能和加载要素组合。在规定的空气比释动能和加载要素组合下,
低对照度分辨率的最小值,应不大于规定的最小值。
基于很多试验器件都能够有效地丈量低对照度分辨率,假如使用
的试验器件与本文规定不一样,则应将所使用试验器件的说明与低对照
度分辨率的丈量结果一同记录。
3、影像均匀性
产品标准中应规定影像均匀性的最大值及所使用的SID和加载
要素。除非制造商还有申明,影像规定采样点的灰度值标准差R与规
定采样点的灰度值均值Vm之比不该大于2.2%。即:
1
2.2%(1)
Vm
式中:
R——灰度值标准差;
Vm——灰度值均值。
4、有效成像地区
产品标准中应规定所采纳的探测器的有效成像地区在x,y两个方
向上的最大尺寸,实质有效视线尺寸应大于制造商宣称有效视线尺寸
的95%。
5、残影
无可见残影存在。
6、伪影
无可见伪影存在。
二、数字化医用X射线拍照系统拍照影像质量试验方法
1、空间分辨率
置厚度为20mm的纯铝衰减体模于射束中心,使之覆盖整个照耀
野;试验器件采纳附录B中的线对分辨率测试卡或近似的测试卡,测
试卡与防散射滤线栅呈45°,置于视线中心地点。测试卡尽可能凑近
影像接收面。将DR系统设置到标称有效成像地区。
2
在有衰减体模的状况下,用70kV,适合的mAs进行曝光,适合调
节影像至最正确,目测察看,确立分辨率。
在未附带衰减体模状态下,用适合的kV和mAs进行曝光,影像
不该饱和,适合调理影像至最正确,目测察看,确立分辨率。
2、低对照度分辨率
采纳附录A的布局,不使用衰减体膜,焦点至影像接收面的距离为制造商规定的正常使用值,
试验器件采纳附录C中的低对照度分辨率测试卡,试验器件置于患者支撑面上,视线中心地点。置空气比释动能探测器于试验器件面
向X射线源的一面。用规定的加载要素组合进行曝光,适合调理影像至最正确,目测察看影像,确立等级。记录察看结果及空气比释动能。
3、影像均匀性试验步骤以下:
移走滤线栅;
校准平板;
设置SID和加载要素为制造商申明的使用条件。在制造商未做申明的状况下设置X射线管电压为70kV,SID为设施同意的最大值,当设施同意的最大SID值超出1.8m时设为1.8m;
置厚度为20mm的纯铝衰减体模于X射线束中心,使之覆盖整个照耀野;
按设置的SID和加载要素进行AEC曝光,储存图像;
3
在影像中心及影像周围从中心至四个极点约三分之二的地点
上选用五个采样点,在每个采样点中分别读取64×64个像素的灰度值,并计算出每个采样点内像素灰度值的均匀值Vi。而后按下式计算:
1
5
Vi(2)
Vm
5i
1
式中:
Vm——为5个采样点的灰度值均值。
R
15
(ViVm)2(3)
5i
1
式中:
——为5个采样点的灰度值标准差。
4、有效成像地区
试验步骤以下:
移走滤线栅;
置测试卡于凑近影像接收面的地点,使测试卡上一个方向的刻度尺与丈量方向平行。
曝光条件:AEC或制造商申明的使用条件;
在曝光所成影像中直接读取测试卡上两个刻度尺上的数据
X和Y;
4
dx=X/X1;
dy=Y/Y1;
X1,Y1为制造商申明的尺寸;
dx和dy中的最小值应切合要求。
在没法凑近影像接收面时能够采纳折算的方法。
5、残影
试验步骤以下:
移走滤线栅;
设置SID和加载要素为制造商申明的使用条件。在制造商未做申明的状况下设置X射线管电压为80kV,100mAs,SID为设施同意的最大值,当设施同意的最大SID值超出1.8m时设为1.8m。置厚度为20mm的纯铝衰减体模于X射线束中心,使之覆盖整个照耀野;
置直径10mm厚度2mm的铅盘于照耀野中心;
按设置的SID和加载要素实行第一次曝光,在制造商规定的最短曝光间隔时间内去掉铅盘后用70kV,AEC实行第二次曝光。未规准时按1分钟进行;
目视检查所生成图像中能否存在残影。
6、伪影
试验步骤以下:
设置SID和加载要素为制造商申明的使用条件。在制造商未做申明的状况下设置X射线管电压为70kV,SID为设施同意
5
的最大值,当设施同意的最大SID值超出1.8m时设为1.8m。设置20mm的纯铝衰减体模于X射线束中心,使之覆盖整个照耀野;
按设置的SID和加载要素实行AEC曝光;
适合调整窗宽窗位,经过目视检查所生成图像中能否存在伪影。
6
附录A
测试布局
1——
原创力文档


文档评论(0)