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2022年材料科学研究方法考试试题与答案

北京化工大学2004——2005学年第1学期

《材料科学讨论方法》期末考试试卷(a卷)

班级姓名学号：分数：

一、名词解释（每题2分，共10分）

x射线的标识谱：当加于x射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应

的某一特定值uk时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现一系列

强度很高、波长範围很窄的线状光谱，它们的波长对肯定材料的阳极靶材

有严格恆定的数值，此波长可作为阳极靶材的标誌或特徵。

空间点阵：晶体是由原子在三维空间中规则排列而成的。在讨论晶体

结构时，一般只抽象出其重複规律。这种抽象的图形即为空间点阵。

残余应力：指产生应力的各种因素不复存在时，由于形变和体积变化

不均匀而存留在物体内部并自身保持平衡的应力。

辨别本领：是指成像物体(试样)上能辨别出来的两个物点间的最小距

离。

热分析法：利用热效应来讨论材料的转变和反应等。

二、选择题（每题只选一个答案，每题1.5分，共30分）

1.当一个k层电子被激发而形成空位时，一个m层电子填补k空位，

产生的特徵x射线称②射线。

①kα②kβ③mα④mβ

2.电子束与固体相互作用一般不会产生④。

①二次电子与俄歇电子②二次电子与透射电子

③特徵x射线与俄歇电子④二次电子与二次离子。

3.电子探针微区分析的区域大小为②。

①mm级②μm级③nm级④原子级

4.扫描电镜的放大倍数取决于③。

①电磁透镜的放大率②电磁透镜的磁场强度

③电子束扫描区域与荧光屏显示区域的比值④二次电子产生效率

5.扫描电镜与透射电镜相比具有①的优点。

①景深大，放大倍数高②样品无须导电

③景深大，样品製备便利④对晶体缺陷解析度高

6.x射线光电子能谱仪的工作原理是②。

①用x射线照耀样品，分析产生的电子强度

②用x射线照耀样品，分析产生的电子力量

③用电子束射样品，分析产生的特徵x线强度

④用电子束射样品，分析产生的特徵x线力量

7.x射线光电子能谱适用于进行③分析。

①材料化学成分的精确定量②材料内部原子结构与排列

③材料的化学组成与化学状态④材料的外表微观形貌

8.透射电镜一般不具备②的功能。

①样品外表形貌分析②样品具体结构分析

③样品内部晶体缺陷分析④非导电样品分析

9.当波长为λ的x射线作用于试样汲取体时，有

①物质的原子序越大，对x射线的汲取力量越强，

②物质的原子序越小，对x射线的汲取力量越强，

③物质的原子序越大，对x射线的汲取力量越弱，

④物质的原子序越小，对x射线的汲取力量越强。

10.当一个k层电子被入射光量子击出后，所产生的一个k层空位被

两个l层空位代替，此时跃出的l层电子称为②。

①二次电子②俄歇电子③反冲电子④光电子。

11.x射线在穿透物质后强度衰减，除大局部是因其汲取外，还有一

局部是①。

①散射②透射③光电效应④热效应

12.巨集观应力的x射线衍射效应使衍射线①。

①位移②线形的变化③强度降低④消逝

13.在入射电子作用下被轰击出来并离开样品外表的样品的核外电子

叫做②。

1背散射电子②二次电子③俄歇电子④汲取电子

14.电子探针显微分析对样品的损伤程度为①。

①无损伤②损伤严重③损伤轻④损伤适中。

15.俄歇电子逸出试样外表深度範围是①。

①0.1~1nm②1~10nm③10~100nm0.1μm~1μm

16.扫描隧道显微镜的横向解析度可达①。

①0.1nm②0.3~0.5nm③1~3nm6~10nm

17.x射线光电子能谱仪的英文简称为xps，亦可简称为①。