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基于march算法的memoryBIST设计与实现的综述报告

一、概述

随着集成电路的发展，片上存储器的容量和速度要求越来越高，但是随之而来的也有存储器故障概率的增加。因此，为了提高存储器的可靠性，需要进行存储器BIST(内建自检测)来实现这一目标。其中，MemoryBIST就是一种内建在芯片上的存储器自我测试电路，以便通过芯片生产、测试和维护的整个生命周期中实时测试芯片的存储器子系统。而March算法就是其中应用最为广泛的自检测算法。本文将对基于March算法的MemoryBIST设计与实现进行综述。

二、March算法

March算法是由IBM公司于1975年提出的存储器内部测试算法。March算法采用了双向操作的方式，可以检测存储器中的故障点，并自动修复该故障点。该算法主要包括4个步骤：

1.写入模式

2.读取模式

3.预充电模式

4.关断模式

其中，依次执行以上四个模式，就形成了March算法的工作流程。

三、MemoryBIST

MemoryBIST是一种存储器子系统的测试电路，主要作用是对于存储器子系统进行测试，以提高存储器的可靠性。其测试流程可以分为三个阶段：

1.预处理阶段

2.测试阶段

3.后处理阶段

在预处理阶段，MemoryBIST通过将March模式加载到存储器中，使存储器进入待测试状态。在测试阶段，MemoryBIST会根据March模式对存储器进行读写操作，并记录测试结果。在后处理阶段，MemoryBIST会对测试结果进行分析并生成报告。

四、基于March算法的MemoryBIST设计与实现

1.March算法的实现

在MemoryBIST测试过程中，March算法的实现是关键。March算法主要包含以下步骤：

1.初始化：地址计数器AC初始化为零

2.写入检验位模式

3.读取检验位模式

4.写入反检验位模式

5.读取反检验位模式

6.预充电

7.关断

2.MemoryBIST的实现

MemoryBIST的实现主要包括以下步骤：

1.预处理：将March算法写入存储器中

2.测试阶段：执行March算法，对存储器进行测试

3.后处理：对测试结果进行分析并生成报告

其中，在前处理阶段，需要将March算法加载到存储器中。在测试阶段，MemoryBIST会执行March算法，并对测试结果进行记录。在后处理阶段，MemoryBIST会对测试结果进行分析并生成报告。

五、结论

基于March算法的MemoryBIST在存储器可靠性测试中得到了广泛应用。MemoryBIST采用内建自检测技术实现对存储器的全面自我测试，可以极大地提高存储器系统的可靠性。同时，March算法的实现也保证了测试流程的高效性和可靠性。将来，随着集成电路的发展，MemoryBIST技术将会得到更广泛的应用。