掺杂B,Cr,Mo,Ti,W,Zr后金刚石中正电子湮灭寿命计算.pdfVIP

物理学报

Acta

Phys.

Sin.Vol.73,No.1(2024)017802

掺杂B,Cr,Mo,Ti,W,Zr后金刚石中

正电子湮灭寿命计算*

1)2)1)†3)

赵永生

阎峰云

刘雪

1)

(兰州理工大学,

省部共建有色金属先进加工与再利用国家重点实验室,

兰州730060)

2)

(兰州工业学院机电工程学院,

兰州730060)

3)

(兰州理工大学石油化工学院,

兰州730060)

(2023

年8

月3日收到;

2023

年10

月3日收到修改稿)

金属基金刚石复合材料被广泛应用和研究,

但金刚石表面预处理所导致的空位、掺杂等缺陷对金属基与

金刚石界面性能有很大影响.

尽管透射电子显微镜和能谱分析等技术已用于缺陷检测,

但这些方法存在局限

性.

通过计算金刚石中正电子湮灭寿命,

可以准确评估金刚石的界面缺陷.

本文利用第一性原理计算方法,

采

用多种正电子湮灭算法和增强因子,

计算了金刚石理想晶体、单空位、掺杂B,

Cr,

Mo,

Ti,

W和Zr后的正电

子湮灭寿命.

结果显示,

在采用局域密度泛函时,

结合Boronski

Nieminen算法以及随机相位近似限制作为

湮灭增强因子时,

计算得到的正电子湮灭寿命与文献的实验结果更吻合.

同时,

金刚石中B和Cr的掺杂使正

电子湮灭寿命从由单空位119.87

ps增加为148.57

ps和156.82

ps.

总体来说,

金刚石中的空位和掺杂原子缺

陷都会引起正电子湮灭寿命的变化.

这些发现为理解和优化金刚石界面提供了有价值的理论依据.

关键词：金刚石,

掺杂,

正电子,

湮灭寿命

PACS：78.70.Bj,

82.45.Qr,

81.05.uj,

34.80.–iDOI:10.7498/aps.73

的润湿性较差[16,17],

导致金刚石与金属基体之间的

微观界面存在不同程度的缺陷,

如界面空位、裂

1

引言

纹、镀层脱落、金刚石表面碳化等.

为优化金属与

金刚石是一种面心立方结构的碳的同素异形金刚石之间的界面性能,

一般在制备金属基金刚石

[1,2]复合材料前,

都会对金刚石表面进行预处理,

引入

体,

常以单质的形式存在于地球深处,

其具有卓

[18,19][20][21][22,23][24][25,26]

[3–5]