《半导体集成电路+直接数字频率合成器测试方法gbt+42848-2023》详细解读.pptx

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《半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法gb/t42848-2023》详细解读1范围2规范性引用文件3术语和定义4总则4.1测试环境4.2测试注意事项contents目录4.3相关文件5静态参数5.1逻辑输入高电平电压VIH5.2逻辑输入低电平电压VIL5.3逻辑输出高电平电压VOH5.4逻辑输出低电平电压VOL5.5逻辑输入高电平电流IIHcontents目录5.6逻辑输入低电平电流IIL5.7增益误差EG5.8积分非线性INL5.9微分非线性DNL5.10满幅输出电流IFScontents目录5.11

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