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北京理工大学博士学位论文

半导体激光器

（济南福来斯光电技术有限公司，**************）

1前言

当前人类正进入信息和智能化的时代。以光电子、微电子为基础的通信和网络技

术已成为高技术的核心，正在深刻地影响着国民经济、国防建设的各个领域，成为世

界发达国家竞相发展的高新技术，其中以半导体激光器起着举足轻重的作用。

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20世纪60年代到20世纪70年代经过各国科学家的不懈努力，实现了半导体

激光器的室温、连续激射后，开创了半导体激光器的发展的新时期。以其转换效率高、

体积小、重量轻、寿命长、能直接调制等特点成为信息技术的关键器件。其发展速度

之快、应用范围之广、波长覆盖范围之宽都是任何其它类型激光器所不能比拟的。目

前已经是光纤通信、光纤传感、光盘信息存贮、激光打印和印刷、激光分子光谱学以

及固体激光器泵浦（DPSSL）和光纤放大器（SLA）泵浦中不可替代的光源。随着它

的输出功率和相干性的不断提高，它也在材料加工、精密测量等方面一展宏图，显示

出巨大潜力，正在迅速占领过去由气体和固体激光器占领的一些市场。据统计国内半

导体激光器的市场占有率正逐年递增，从90年代初期的不足10%到目前80%以上。

对于半导体激光器在任何领域的应用，总希望其能长期可靠的工作，例如海底通

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信系统由于维修更换成本很高，因此要求器件可靠工作20年以上，而影响维修周期

长短的关键器件就是半导体激光器的工作寿命。因此从90年代初发达国家开始对半

导体激光器的可靠性和寿命测试方法开始研究。这些研究归纳起来有两种：第一、加

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速寿命测量法：如热应力加速测量法、电应力加速测量法（包括大电流加速和

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静电冲击）等等。第二、激光器参数测量法：如电导数测量法、热阻测量法。

确定器件的可靠性和寿命原则上应在特定的工作条件下（电流、功率、温度等）

对器件进行考核，直至器件失效。对于高可靠性的电子元器件进行长时间的寿命试验，

无论从成本还是时间上来看，都是不合算的，甚至是不可能的。例如对于某种器件，

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如果要求其失效率为2.6×10/小时，抽取1000只进行试验，若允许5只失效，则需

试验22年。因此提出了加速寿命试验来评估器件寿命，在严酷的条件下促进某种机

理引起失效，利用这种加速实验得到的寿命与正常使用条件下寿命二者之间存在的规

律性，就叫做加速寿命试验。即用较短的时间加速老化预测器件寿命。该方法的优点

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