半导体器件 第5-9部分_ 光电子器件 发光二极管 基于温度相关的电致发光内量子效率测试方法-编制说明.pdf

国家标准《半导体器件第5-9部分：光电子器件发光二极管基于

温度相关的电致发光内量子效率测试方法》

（征求意见稿）编制说明

一、工作简况

1、任务来源

根据国家标准化管理委员会关于下达2023年第三批推荐性国家标准计划

及相关标准外文版计划的通知（国标委发〔2023〕58号），计划制定推荐性国

家标准《半导体器件第5-9部分光电子器件发光二极管基于温度相关的电致

发光内量子效率测试方法》，计划编号T-339。该标准由浙江智菱科

技有限公司牵头起草，项目周期为16个月。

2、主要工作过程

自标准研制任务下达后，由标准牵头单位浙江智菱科技有限公司组建标准编

制组，参与编制的单位有杭州英诺维科技有限公司、工业和信息化部电子工业标

准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、厦门市产品质量监督检验院、

华南理工大学。

标准编制工作组进行了细致的分工，牵头单位浙江智菱科技有限公司主要负

责总体标准内容的编制，主导完成标准的试验验证工作，统筹标准编制进度；杭

州英诺维科技有限公司主要负责配合牵头公司完成标准的编制工作，并为相应的

试验验证提供技术指导；工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国电子科技

集团公司第十三研究所、厦门市产品质量监督检验院、华南理工大学主要负责配

合牵头单位完成标准的试验验证工作，并共同负责标准文本内容的整理、编辑和

修改。

标准编制组成立后，收集、整理国内外相关资料，对相关产品的技术路线、

参数指标以及现有的测试情况进行了细致的研究。编制组对原有的国际标准IEC

60747-5-9:2019“Semiconductordevices–Part5-9:Optoelectronicdevices–

Lightemittingdiodes–Testmethodoftheinternalquantumefficiencybasedon

thetemperature-dependentelectroluminescence”的内容展开了讨论和确认，最终决

定等同采用国际标准，形成标准草案。

2.1、标准征求意见稿

2024年2月，编制组组织召开标准起草会，来自浙江智菱科技有限公司、

杭州英诺维科技有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国电子科

技集团公司第十三研究所、厦门市产品质量监督检验院、华南理工大学等单位的

相关代表参加了会议。会上，编制组成员和专家对标准草案内容展开了研讨，主

要意见如下：

（1）根据国际标准英文原意及国内行业用语，调整文中专业术语的表述；

（2）修改了图片中的文字；

（3）修改润色了测试原理、测试方法等章节中的内容；

（4）根据GB/T1.1的要求，完善标准格式。

会后，编制组根据会议上的讨论内容和修改意见，对标准草案做出了调整，

修改了标准文本的措辞，调整了文字、图片的格式。编制组对标准草案进行完善

后，最终形成了该标准的征求意见稿。

二、标准编制原则、确定主要内容的依据及解决的主要问题

1、编制原则

该标准依据GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构

和起草规则》和GB/T1.2-2020《标准化工作导则第2部分：以ISO/IEC标准化

文件为基础的标准化文件起草规则》的要求，并等同采用国际标准IEC

60747-5-9:2019“Semiconductordevices–Part5-9:Optoelectronicdevices–

Lightemittingdiodes–Testmethodoftheinternalquantumefficiencybasedon

thetemperature-dependentelectroluminescence”进行编制。

2、确定主要内容的依据

1)确定该标准的范围

该标准规定了基于温度特性的发光二极管（LED）内量子效率的测量方法。

该标准适用于不含荧光粉的LED芯片。用于照明的白光LED不属于该标准

的适用范围。

2)确定该标准的技术内容

该标准的主要技术内容包括LED内量子效率的测试条件、测试仪器、测试

原理和测试步骤。该标准在附录中给出了测试示例和测试报告模板。

3)主要技