半导体器件 第14-1部分：半导体传感器 传感器总规范-编制说明.pdf

国家标准《半导体器件第14-1部分：半导体传感器传感

器总规范》（征求意见稿）编制说明

一、工作简况

1、任务来源

根据中国国家标准化管理委员会的要求，由中国电子技术标准化研究院牵头

负责制定国家标准《半导体器件第14-1部分：半导体传感器传感器总规范》，

计划编T-339。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出，全国

半导体器件标准化技术委员会归口。

2、制定背景

本标准是修订GB/T20521-2006，修改采用IEC60747-14-1《半导体器件第

14-1部分：半导体传感器传感器总规范》。由于本标准采用的IEC标准已经进

行了修订，故申报对本标准也进行修订。通过对本标准的修订，有利于促进国产

半导体传感器质量水平的提升和国际化，引导国内产业发展与国际接轨。

3、工作过程

国家标准制定计划下达后，中国电子技术标准化研究院牵头成立了标准编制

工作组。工作组由多名从事半导体传感器标准化、研发、生产和检验工作多年，

并经过标准化培训，具有制定、修订和审查相关标准的经验和能力的专业技术人

员组成。标准编制工作组制定了国家标准工作计划，并对成员进行了明确分工，

收集整理了有关的技术资料，包括转化的IEC标准、国内传感器相关标准与产品

手册等。标准编制工作组依照修改采用国际标准的标准编制要求，对国际标准

IEC60747-14-1：2010《半导体器件第14-1部分：半导体传感器传感器总规

范》进行了翻译和编写，形成了该标准征求意见稿。

二、国家标准编制原则、主要内容及其确定依据

1、编制原则

本标准编制的格式按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化

文件的结构和起草规则》的有关要求，编制程序符合相关文件的规定。

本标准是修改采用IEC60747-14-1：2010《半导体器件第14-1部分：半

导体传感器传感器总规范》，按照GB/T1.2-2020《标准化工作导则第2部分：

以ISO/IEC标准化文件为基础的标准化文件起草规则》给出的总体原则和相关规

则对国际标准进行采用。

本标准主要技术内容与IEC60747-14-1基本保持一致，并结合我国产品和

产业情况，对第3章中传感器类型进行了补充，如在声学量传感器中补充麦克风，

在光学量传感器中补充成像传感器等，并充分考虑了与其它相关国家标准的协调

性。

2、主要内容及其确定依据

（1）标准范围

本标准适用于半导体材料制造的传感器，也可适用于其他材料（如绝缘和铁

电材料）制造的传感器。

（2）技术要求

本标准规定了有关传感器规范的基本条款，是半导体传感器系列标准的其他

各类型传感器规范的基础。主要内容包括分类、术语定义、标准环境条件、标志、

质量评定程序、试验和测试程序等。

（3）修改采用

本标准是修改采用IEC60747-14-1：2010《半导体器件第14-1部分：半

导体传感器传感器总规范》，本标准主要技术内容与IEC60747-14-1基本保持

一致，并结合我国产品和产业情况，对第3章中传感器类型进行了补充，如在声

学量传感器中补充麦克风，在光学量传感器中补充成像传感器等，并充分考虑了

与其它相关国家标准的协调性。

3、编制过程中解决的主要问题

编制组对国内传感器产品的情况进行了分析，对原版标准和IEC新版标准进

行了比对，深入了解行业的发展现状及趋势，确保标准的科学性和先进性。

4、标准前后版本之间技术内容的对比分析

本标准与前一版本标准相比，修改了标准名称，补充了规范性引用文件，补

充了部分术语定义，增加了标准环境条件、标志、质量评定程序、试验和测试程

序等内容。

三、试验验证的分析、综述报告，技术经济论证，预期的经济效益、社会

效益和生态效益

当前全球信息技术发展正处于跨界融合、加速创新的历史时期，呈现万物互

联、万物智能的新特征。传感器作为与外界环境交互的重要手段和感知信息的主

要来源，支撑了智能制造、人工智能、5G通信、工业互联网、智慧城市等重点

领域的发展，愈发成为决定新一代信息技术产业发展的核心与基础，以及主要国

家和跨国企业布局的战略高地，市场应用呈现爆发式增长态势。

本标准是IEC60747《半导体器件第14部分：半导体传感器》的第14-