半导体器件 第5-13部分：光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验-编制说明.pdf

国家标准报批资料

国家标准《半导体器件第5-13部分：光电子器件LED

封装的硫化氢腐蚀试验》（征求意见稿）编制说明

一、工作简况

1.任务来源

根据国标委发【2023】58号文，国家标准委关于下达2023年第三批推荐性

国家标准计划及相关标准外文版的通知，《半导体器件第5-13部分：光电子器

件LED封装的硫化氢腐蚀试验》（项目编T-339），主办单位为中国

电子技术标准化研究院等。

2.主要工作过程

本项目下达后，我单位成立了标准编制工作组，开展对Semiconductor

devices–Part5-13:Optoelectronicdevices–Hydrogensulphidecorrosion

testforLEDpackages的翻译工作，在校正和修改完善的基础上编制标准征求

意见稿。

2024年2月，编制组组织召开标准起草会，标准主要起草单位、参与单位

及相关行业代表参加了会议，会后将标准草案进行修改后，形成征求意见稿，并

于2024年3月将征求意见稿资料上传至电子标准平台、国家标准委标准制修订

系统，进行广泛的意见征集，同时将标准征求意见稿资料发送给行业内相关的研

制单位、用户单位、检测机构等，广泛征求行业意见。

二、标准编制原则和确定主要内容的论据及解决的主要问题

1.编制原则

本标准的编写格式满足GB/T1.1-2020的要求，编制程序符合相关文件的规

定。本标准等同采用IEC60747-5-13:2021，对其中的技术内容进行翻译，格式

按照我国标准规定的相关文件进行修改。

2.确定的主要内容

IEC60747系列的第5-13部分，规定了LED封装的硫化氢腐蚀试验和测试

方法，本标准对IEC60747第5-13部分进行等同转化。本标准规定了一种因硫

化氢导致的LED封装银和银合金变色的加速试验方法。通过该试验能够确定含硫

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化氢气体对银或银合金、有其他保护层的银或银合金、用银或银合金覆盖的金属

等LED封装材料的影响。该试验方法能够确定银和银合金变色对LED封装光通量

和辐射通量维持率以及电性能的影响效果。

本标准不包含因其他因素退化导致的光通量维持率、辐射通量维持率和电性

能（例如，铜或硅酮部件的降解）变化。本标准适用于照明应用的LED封装。

3.解决的主要问题

半导体发光二极管的应用场景众多，器件工作环境条件差异较大，受到气体

污染物、温度和湿度等外界因素影响，LED因质量问题导致腐蚀失效的现象严重

影响产品性能。硫化氢腐蚀试验对半导体发光二极管产品抗腐蚀性能评价至关重

要。IEC60747-5-13:2021围绕硫化氢腐蚀LED封装中的银和银合金而导致器件

光电性能降低展开研究，制定针对LED封装的硫化氢腐蚀试验方法。IEC标准具

有国际先进水平，积极转化国际先进标准，建立符合我国现状的LED封装的硫化

氢腐蚀试验方法标准，对我国半导体光电子器件发展具有重大意义。本标准的制

定有利于完善LED封装的考核评价，满足LED封装产品国内外市场的需求，对促

进评价机制和监督机制的建立具有重要的作用。

三、主要试验（或验证）情况分析

本标准对IEC60747第5-13部分进行等同转化。IEC标准制定过程中已开展相

关方法及试验验证。

四、知识产权情况说明

本标准规定的内容是行业内通用性的内容，在标准编制过程中未识别出标准

的某些技术内容涉及专利。

五、产业化情况、推广应用论证和预期达到的经济效果

本标准的制定有利于指导LED产品的研制、生产、检测、采购和使用。等同

采用IEC标准制定国家标准，可以促进LED产品质量水平的提升及产品的国际化，

为LED产业发展提供技术支持。

六、采用国际标准和国外先进标准情况

本标准等同采用IEC607475-13：2021《Semiconductordevices–Part5-13:

Optoelectronicdevices–HydrogensulphidecorrosiontestforLED

packages》。

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七、与现行相关法律、法规