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2025电子科技大学数字系统EDA技术试卷及答案

2025年电子科技大学数字系统EDA技术试卷（闭卷）

一、单项选择题（每题2分，共20分）

1.以下关于硬件描述语言（HDL）的说法中，错误的是：

A.Verilog与VHDL均支持行为级、数据流级和结构级描述

B.VHDL的强类型特性使其在大型设计中更易维护

C.Verilog的`always@()`语句表示对所有敏感信号的隐式监听

D.综合工具无法处理HDL中的延迟语句（如`10`），因此所有延迟描述都会被忽略

2.在FPGA设计流程中，“时序约束”通常在哪个阶段完成？

A.RTL编码

B.综合（Synthesis）

C.布局布线（PlaceRoute）

D.仿真验证（Simulation）

3.某同步时序电路中，触发器时钟周期为10ns，建立时间（SetupTime）为1.5ns，保持时间（HoldTime）为0.8ns，组合逻辑延迟为5ns，时钟偏移（ClockSkew）为+0.5ns（接收端时钟比发送端晚）。该电路是否满足时序要求？

A.满足，建立时间余量为3ns，保持时间余量为3.7ns

B.不满足，建立时间余量为-0.5ns

C.满足，建立时间余量为2.5ns，保持时间余量为4.2ns

D.不满足，保持时间余量为-0.3ns

4.以下哪项不是现代EDA工具（如XilinxVivado）的典型功能？

A.自动布局布线（AutoPR）

B.功耗估算（PowerEstimation）

C.人工智能辅助逻辑优化（AI-drivenLogicOptimization）

D.芯片制造工艺参数调整（如光刻精度设置）

5.关于测试平台（Testbench）的设计，正确的做法是：

A.测试平台需包含被测模块（DUT）的完整功能实现

B.应使用非阻塞赋值（Non-blockingAssignment）驱动输入信号

C.需覆盖所有可能的输入组合（穷举测试）以确保验证完备性

D.通过断言（Assertion）检查输出是否符合预期是高效的验证方法

6.某4位计数器的Verilog代码如下，其模值为：

```verilog

modulecounter(

inputclk,rst,

outputreg[3:0]q

);

always@(posedgeclkorposedgerst)begin

if(rst)q=4b0000;

elseif(q==4b1001)q=4b0000;

elseq=q+1;

end

endmodule

```

A.8

B.9

C.10

D.16

7.在VHDL中，以下哪条语句可以正确实现“当en为高电平时，输出q等于输入d；否则q保持原值”？

A.`q=dwhenen=1elseq;`

B.`ifen=1thenq:=d;elseq:=q;endif;`

C.`process(clk)beginifen=1thenq=d;endif;endprocess;`

D.`q=dafter10nswhenen=1elseq;`

8.FPGA中的查找表（LUT）通常用于实现：

A.存储单元（如RAM）

B.组合逻辑函数

C.时钟缓冲器（如BUFG）

D.高速串行接口（如GTP）

9.以下哪项属于逻辑综合（Synthesis）阶段的优化目标？

A.减少布局布线后的互连线长度

B.将RTL描述转换为门级网表

C.调整时钟树结构以减小时钟偏移

D.生成位流文件（Bitstream）

10.在时序分析中，“最大延迟路径”（CriticalPath）的优化策略不包括：

A.流水线（Pipelining）

B.资源共享（ResourceSharing）

C.寄存器重定时（RegisterRetiming）

D.逻辑复制（LogicDuplication）

二、填空题（每空2分，共20分）

1.硬件描述语言的并发性是指多个进程或always块在仿真时________执行，而软件语言的顺序性是指代码按________执行。

2.FPGA设计中，I/O约束的关键参数包括________（信号电平标准）和________（输入/输出延迟）。

3.综合工具的三大核