重新思考工业微小缺陷检测中的掩模降采样和回归损失函数.pdfVIP

第37卷第1期计算机辅助设计与图形学学报Vol.37No.1

2025年1月JournalofComputer-AidedDesignComputerGraphicsJan.2025

重新思考工业微小缺陷检测中的掩模降采样和回归损失函数

1,2)1,2)*1,2)3)1,2)1,2)

李刚,邵瑞,李敏,万洪林,周鸣乐,韩德隆

1)(齐鲁工业大学(山东省科学院)山东省计算中心(国家超级计算济南中心)算力互联网与信息安全教育部重点实验室济南250014)

2)(山东省计算机网络重点实验室山东省基础科学研究中心(计算机科学)济南250014)

3)(山东师范大学物理与电子科学学院济南250358)

(202420955@)

摘要:针对PCB在生产过程中会出现短路、漏孔等缺陷,已有的损失函数和降采样算法存在定位不准确等导致缺

陷检测收敛缓慢、检测结果不准确的问题,提出了一种基于掩模降采样和微小缺陷交并比损失的一阶段缺陷检测器.

首先,提出基于面积损失的微小缺陷交并比损失函数,以进行更精确的微小缺陷回归定位;其次,提出基于动态掩

模的降采样算法,以利于检测器在缩小参数矩阵尺寸过程中自动筛选重要特征、次要特征和噪声特征,提升缺陷检测

器的特征提取能力.实验结果表明,提出的缺陷检测器在北京大学PCB缺陷数据集和DeepPCB数据集上可分别达

到98.50%的mAP和99.02%的mAP,优于对比算法;提出的降采样算法使YOLOv5等检测器的mAP在北京大学PCB

数据集中提升了1.6个百分点,提出的损失函数有利于YOLOv3和YOLOv4等检测器提升其在2个数据集上的检测

准确率,展现出良好的鲁棒性.

关键词:损失函数设计;降采样;缺陷检测;目标检测

中图法分类号:TP391.41DOI:10.3724/SP.J.1089.2023-00064

RethinkingMaskDownSamplingandRegressionLossFunctioninIndustrialTiny

DefectDetection

LiGang1,2),ShaoRui1,2)*,LiMin1,2),WanHonglin3),ZhouMingle1,2),andHanDelong1,2)

1)(KeyLaboratoryofComputingPowerNetworkandInformationSecurity,MinistryofEducation,ShandongComputerScienceCenter(National

SupercomputerCenterinJinan),QiluUniversityofTechnology(ShandongAcademyofSciences),Jinan250014)

2)(ShandongProvincialKeyLaboratoryofComputerNetworks,ShandongFundamentalResearchCenterforComputerScience,Jinan250014)

3)(SchoolofPhysicalandElectronicSciences,ShandongNormalUniversity,