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2025年大学《电子封装技术-封装制造工艺》考试备考题库及答案解析
单位所属部门:________姓名:________考场号:________考生号:________
一、选择题
1.电子封装过程中,以下哪种工艺属于物理变化?()
A.玻璃封装材料熔融
B.焊膏金属氧化
C.硅芯片蚀刻
D.有机基板热压成型
答案:D
解析:热压成型过程中,材料只是形态发生改变,没有新物质生成,属于物理变化。熔融、氧化、蚀刻都涉及化学反应或物质转化,属于化学变化。
2.硅芯片在封装过程中需要进行粘接,以下哪种粘接剂常用于高频率封装?()
A.环氧树脂
B.腈-丁橡胶
C.硅酮密封胶
D.聚酰亚胺胶膜
答案:D
解析:聚酰亚胺胶膜具有低介电常数和高玻璃化转变温度,适合高频封装应用。环氧树脂常用于一般封装,腈-丁橡胶为弹性体,硅酮密封胶主要用于密封。
3.以下哪种封装形式最适合散热要求?()
A.螺柱型
B.贴片式
C.轴承式
D.带散热器的封装
答案:D
解析:带散热器的封装通过大面积金属散热片直接接触热源,散热效率最高。螺柱型和贴片式散热能力一般,轴承式主要用于旋转部件。
4.电子封装中,以下哪种工艺可能导致内部气孔产生?()
A.压铸成型
B.真空浸渍
C.热压烧结
D.振动研磨
答案:C
解析:热压烧结过程中,粉末颗粒间的孔隙在高温高压下可能无法完全消除,导致成品内部残留气孔。压铸成型、真空浸渍和振动研磨都能有效避免气孔产生。
5.封装过程中,以下哪种缺陷会导致电性能下降?()
A.封装间隙过大
B.引线弯曲
C.内部裂纹
D.表面划痕
答案:C
解析:内部裂纹会中断电流通路或改变电场分布,严重降低电性能。间隙过大、引线弯曲和表面划痕主要影响机械强度或外观,一般不直接降低电性能。
6.现代封装中,以下哪种技术可以显著提高封装密度?()
A.多芯片模块(MCM)
B.锡铅焊料
C.无铅焊膏
D.氮化硅涂层
答案:A
解析:多芯片模块技术通过将多个芯片集成在单一基板上,大幅提高单位面积的功能密度。其他选项主要改善性能、环保性或防护性。
7.封装材料的热膨胀系数(CTE)与芯片差异过大时,以下哪种问题会发生?()
A.内部应力增大
B.封装重量增加
C.电气绝缘性下降
D.耐腐蚀性变差
答案:A
解析:CTE差异会导致温度变化时产生热应力,差异越大应力越严重,可能引发裂纹或连接失效。封装重量、绝缘性和耐腐蚀性主要受材料本身性质影响。
8.以下哪种封装工艺最适合高可靠性要求?()
A.热风整平
B.无铅回流焊
C.激光焊接
D.真空浸渍
答案:D
解析:真空浸渍能完全填充封装内部空隙,形成致密结构,抗湿气、抗振动性能优异,最适合高可靠性应用。其他工艺各有局限性。
9.封装过程中,以下哪种检测方法主要用于检测内部缺陷?()
A.X射线探伤
B.红外热成像
C.超声波检测
D.洗瓶机清洗
答案:A
解析:X射线能穿透封装材料,直接显示内部结构,可检测裂纹、空洞等缺陷。红外热成像检测表面异常,超声波检测内部缺陷但穿透深度有限,清洗属于前处理工艺。
10.电子封装中,以下哪种材料属于有机高分子材料?()
A.氮化铝
B.硅氮化物
C.聚酰亚胺
D.氮化硅
答案:C
解析:聚酰亚胺是典型有机高分子聚合物,用于封装基板和粘接剂。氮化铝、硅氮化物、氮化硅均为无机陶瓷材料。
11.封装工艺中,以下哪种方法主要用于去除表面氧化物?()
A.热风整平
B.化学清洗
C.真空蒸镀
D.激光刻蚀
答案:B
解析:化学清洗通过酸碱溶液与表面氧化物发生化学反应,将其溶解去除。热风整平主要平整焊点,真空蒸镀沉积薄膜,激光刻蚀是表面图形化手段,都不以去除氧化物为主要目的。
12.以下哪种封装技术属于倒装芯片的典型工艺?()
A.引线键合
B.表面贴装
C.芯片直接附着
D.胶粘倒装
答案:C
解析:芯片直接附着是指将芯片直接通过粘接剂粘贴到基板或子板上,是倒装芯片(Flip-chip)的基本结构形式。引线键合是传统封装工艺,表面贴装是组件形式,胶粘倒装是具体操作方法而非技术本身。
13.封装过程中,以下哪种缺陷会导致机械强度下降?()
A.封装过盈量不足
B.引线框架变形
C.内部气孔
D.表面划痕
答案:A
解析:封装过盈量不足意味着芯片或基板与外壳结合不紧密,无法有效传递应力,导致抗冲击、抗振动能力显著下降。引线框架变形、内部气孔和表面划痕主要影响电气性能或可靠性。
14.封装材料的热稳定性通常通过以下哪个指标评价?()
A.介电常数
B.玻璃化转变温度
C.熔点
D.体积电阻率
答案:C
解析:热稳定性指材料在高温下保持其物理化学性质
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