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现代材料分析测试技术试卷及答案

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（每小题2分，共20分。在每小题列出的四个选项中，只有一个是符合题目要求的，请将正确选项字母填在题后的括号内。)

1.下列哪种分析方法属于体视学分析方法？

(A)X射线衍射分析

(B)扫描电子显微镜分析

(C)透射电子显微镜分析

(D)原子吸收光谱分析

2.在透射电子显微镜（TEM）中，为了提高分辨率，通常需要使用：

(A)能量色散X射线谱仪（EDS）

(B)二次电子探测器

(C)高分辨率透射电子像（HRTEM）

(D)X射线衍射仪

3.下列哪种材料制备方法通常用于获得薄区域进行透射电子显微镜观察？

(A)熔融淬火

(B)离子减薄

(C)拉伸实验

(D)相浸蚀

4.X射线衍射（XRD）技术最主要的应用是：

(A)元素定性分析

(B)粒度大小测定

(C)晶体结构测定

(D)表面元素浓度分析

5.扫描电子显微镜（SEM）获取样品表面形貌信息的主要探测器是：

(A)能量色散X射线谱仪（EDS）

(B)二次电子探测器

(C)背散射电子探测器

(D)电子背散射衍射仪（EBSD）

6.光谱分析方法中，利用原子外层电子吸收特征辐射后产生特征发射光谱的是：

(A)原子吸收光谱法（AAS）

(B)原子荧光光谱法（AFS）

(C)紫外可见分光光度法

(D)X射线荧光光谱法（XRF）

7.热分析技术中，测量材料在程序控温下质量随温度变化关系的是：

(A)热重分析（TGA）

(B)差示扫描量热法（DSC）

(C)热导分析（TGA）

(D)动态力学分析（DMA）

8.下列哪种技术通常用于测量材料内部的元素分布？

(A)扫描电子显微镜（SEM）结合能量色散X射线谱仪（EDS）

(B)X射线衍射（XRD）

(C)原子力显微镜（AFM）

(D)热重分析（TGA）

9.衍射峰的峰宽通常反映了：

(A)材料的晶粒尺寸

(B)材料的取向

(C)衍射仪的分辨率

(D)样品的吸收

10.选择合适的样品制备方法时，首要考虑的是：

(A)样品的成本

(B)分析仪器的类型

(C)对样品结构和成分的影响

(D)操作人员的技术水平

二、填空题（每空1分，共15分。请将答案填在横线上。）

1.透射电子显微镜（TEM）的分辨率主要受_________和_________的限制。

2.扫描电子显微镜（SEM）的景深通常比透射电子显微镜（TEM）_________。

3.X射线衍射（XRD）技术基于_________对物质的衍射作用。

4.原子吸收光谱法（AAS）主要用于测定样品中_________的含量。

5.热重分析（TGA）和差示扫描量热法（DSC）都是重要的_________分析技术。

6.电子背散射衍射（EBSD）技术主要用于分析样品的_________信息。

7.衍射斑点（反射）的强度与样品中对应晶面的_________有关。

8.在进行扫描电子显微镜（SEM）分析时，常用的样品固定方法包括_________和_________。

9.光谱分析方法中，利用原子内层电子吸收特征辐射后产生特征X射线的是_________。

10.为了减少样品制备过程中对材料原始结构和成分的破坏，常采用_________等技术。

三、名词解释（每小题3分，共15分。请给出简洁、准确的定义。）

1.分辨率

2.衍射峰位

3.能量色散X射线谱仪（EDS）

4.热重分析（TGA）

5.表面形貌

四、简答题（每小题5分，共20分。请简要回答下列问题。）

1.简述扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）在原理、样品要求和应用方面的主要区别。

2.简述X射线衍射（XRD）技术用于物相鉴定的基本原理。

3.简述原子吸收光谱法（AAS）测定元素含量的基本原理。

4.简述选择材料分析测试方法时应考虑的主要因素。

五、论述题（10分。请就以下问题展开论述。）

结合你所学的知识，论述在材料研究中，如何根据具体的材料特性、研究目的以及可用的分析测试手段，选择合适的分析测试方法组合，以获得全面、准确的信息。

试卷答案

一、选择题

1.(B)

2.(C)

3.(B)