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某单片机控制的晶体管图示仪硬件设计案例

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TOC\o1-3\h\u4998某单片机控制的晶体管图示仪硬件设计案例 1

138761.1图示仪硬件结构 1

27921.2STM32微控制器 2

321331.2.1STM32微控制器内部结构 2

78581.2.2STM32微控制器最小系统 3

119171.3场效应管测量电路 3

188231.1.1栅极阶梯电压电路 4

273671.1.2漏极扫描电压电路 5

312491.1.3漏极电流采集电路 6

215411.4三极管测量电路 7

191691.4.1基极阶梯电流电路 7

175931.4.2发射结电压测量电路 8

138831.5二极管测量电路 9

64061.6显示和按键模块 9

34261.7存储模块 10

209991.8电源模块 10

本文所设计的晶体管图示仪不仅具有测量二极管的伏安特性曲线、中小功率三极管和场效应的特性曲线功能，还可以显示待测晶体管特性参数以及保存测量数据等功能。晶体管图示仪硬件结构采用模块化方案设计，对不同型号类别的待测晶体管，先进行人为识别类别，然后将其插放在对应测量模块上进行测量。

1.1图示仪硬件结构

晶体管图示仪硬件结构由以下四部分组成，结构如图3-1所示。

晶体管图示仪硬件各部分主要功能为：

（1）STM32微控制器是整个图示仪的核心模块，不仅要输出驱动信号，还要接收采集数据，并对采集数据进行处理和存储。同时作为系统控制单元发送控制命令，负责对功能模块进行系统调度，以便系统合理流畅的运行。

（2）信号转换模块负责整个图示仪的信号转换，把STM32微控制器发送的数字信号转换为待测晶体管的驱动电压和驱动电流，同时把待测晶体管的工作电压和工作电流转换为数字信号发送给STM32微控制器。

（3）外部功能模块集显示、存储和控制功能于一体，通过按键选择待测晶体管种类和测量类型，将数据处理后得到的被测晶体管特性曲线和特性参数进行显示，并存储至外部存储器中，供查阅读取，不用再次测量。

根据晶体管的工作原理，设计了各个模块的组成电路，晶体管图示仪测试原理图如图3-2所示，其中STM32微控制器、外部功能模块、信号发生模块和信号采集模块作为二极管、三极管和场效应管测量共用部分。场效应管测量部分通过STM32微控制器提供栅极阶梯电压信号和漏极扫描电压信号，同时需要采集漏极电流得到场效应管输入、输出特性曲线以及特性参数。三极管测量部分通过STM32微控制器提供基极阶梯电流信号和集电极扫描电压信号，同时需要采集发射结电压和集电极电流得到三极管的输入、输出特性曲线以及特性参数。二极管测量部分通过STM32微控制器提供扫描电压信号，同时采集二极管电流得到二极管伏安特性曲线。

从图3-2中可以得到晶体管图示仪硬件组成包括STM32微控制器、场效应管测量电路、三极管（二极管）测量电路、DAC和ADC、存储电路、LCD显示和按键控制电路。模块化设计使硬件系统按功能被划分开，减少相同功能的硬件电路开发投入，方便后期调试工作。本系统硬件设计采用立创EDA软件进行相关硬件原理图绘制与PCB板设计，电源和主控PCB布局见附录图1和图2。

1.2STM32微控制器

微控制器作为系统控制和数据处理核心，需要具有运行速度快、实时性强和简单易用的特点。本设计微控制器采用的芯片型号为STM32F103RCT6，它具有256k字节的程序存储器、8个多功能定时器和多种通信接口（I2C、SPI、CAN、USART）等丰富的片上资源[38]。STM32F103RCT6是基于ARMCortex-M3内核架构芯片，改进了中断响应的指令集，使得该芯片多项性能得以提升[39]。

1.2.1STM32微控制器内部结构

STM32微控制器的时钟频率为72MHz，除了自带片上RAM，还有丰富的外设接口，如GPIO、SPI、USART和I2C接口等，大大简化了本系统的硬件组成[40]，使得晶体管图示仪体积更小，并且功能性强。其内部系统结构如图3-3所示。

图3-3中STM32微控制器内部主要由一个内核、各个总线和多个内部单元组成，内核为Cortex-M3内核，总线有Code总线、系统总线、通用DMAl和DMA2等，内部单元包括内部SRAM、FLASH、FSMC和AHB桥等[41]。总线负责将FLASH与SRAM、AHB桥等内部单元与Cortex-M3内核连接起来进行数据交互。AHB桥将系统总线与输入/输出口（I/O）、定时器、ADC等内部功能相连，通过AHB桥可以选择是否加载功能[42]。每个I/O均能通过软件进行设置相应功能，可以是带或不带上拉或下拉的输入输出端口，还可以是复用的外