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2025年(微电子科学与技术)半导体光电子器件试题及答案

一、单项选择题(每题2分,共20分)

1.关于III-V族半导体发光二极管(LED)的发光机制,以下描述正确的是()。

A.主要依赖施主-受主对复合发光,辐射复合效率与注入载流子浓度成线性关系

B.发光波长由材料禁带宽度决定,GaN基LED发射红光需通过量子阱结构调节

C.非辐射复合主要包括俄歇复合和多声子辅助复合,高温下俄歇复合占比显著增加

D.外量子效率等于内量子效率与光提取效率之和,提升光提取效率需降低表面反射

答案:C

解析:LED发光以带间辐射复合为主(A错误);GaN禁带宽度约3.4eV,对应紫外-蓝光,红光需InGaP等材料(B错误);外量子效率=内量子效率×光提取效率(D错误);高温下俄歇复合(载流子间能量转移)随温度指数增长,是主要非辐射复合机制(C正确)。

2.分布反馈激光器(DFB-LD)中,布拉格光栅的主要作用是()。

A.增强光反馈,实现单纵模输出

B.提高载流子注入效率,降低阈值电流

C.限制横向光场分布,抑制高阶横模

D.调节材料折射率,扩展波长调谐范围

答案:A

解析:DFB激光器通过周期光栅提供布拉格反射(λ=2nΛ,n为有效折射率,Λ为光栅周期),实现波长选择性反馈,抑制多纵模,保证单纵模输出(A正确);载流子注入效率由p-n结设计决定(B错误);横向光场限制依赖波导结构(如脊形波导)(C错误);波长调谐通常通过温度或电流调节折射率(D错误)。

3.雪崩光电二极管(APD)的雪崩倍增因子M与反向偏压V的关系近似为()。

A.M∝V2

B.M∝exp(αW)(α为离化率,W为耗尽层宽度)

C.M∝1/(1-V/V_B)(V_B为击穿电压)

D.M∝√V

答案:C

解析:APD的雪崩倍增因子经验公式为M=1/[1-(V/V_B)^n](n≈3~6),当V接近V_B时,M急剧增大(C正确);指数形式为离化率积分的近似(B描述的是离化过程,非M的直接关系);A、D无理论依据。

4.对于基于InGaAs的PIN光电探测器,为同时实现高响应度和高带宽,最佳设计是()。

A.增加吸收层厚度,减小耗尽层宽度

B.减小吸收层厚度,增大耗尽层宽度

C.吸收层与耗尽层重合,厚度优化为载流子渡越时间与RC时间常数平衡值

D.采用异质结结构,使吸收层禁带宽度大于入射光能量

答案:C

解析:响应度R=ηq/(hν),η与吸收层厚度(需足够吸收光)正相关;带宽受限于载流子渡越时间(与耗尽层宽度W成正比)和RC时间(与结电容C=εA/W成反比)。优化W需平衡渡越时间(τ_t=W/v_s)和RC时间(τ_RC=RC=R(εA/W)),使总带宽1/(2π√(τ_t2+τ_RC2))最大(C正确)。

5.以下关于量子阱激光器(QWL)的描述,错误的是()。

A.量子阱结构通过限制载流子在二维平面运动,提高态密度,降低阈值电流

B.多量子阱(MQW)可增加受激辐射区域,同时保持低阈值特性

C.阱宽减小会导致导带和价带的量子限制斯塔克效应,蓝移发光波长

D.应变量子阱通过调节阱层与势垒层的晶格失配,优化材料增益特性

答案:C

解析:量子限制斯塔克效应(QCSE)是指外加电场下,量子阱中电子-空穴波函数重叠减少,导致发光波长红移(C错误);量子阱的二维态密度在费米能级附近更集中,降低阈值电流(A正确);MQW通过多个薄阱增加有效增益区域,同时避免厚层带来的俄歇复合(B正确);应变量子阱可调节能带结构(如压应变使轻空穴带低于重空穴带,提高增益)(D正确)。

6.微型发光二极管(Micro-LED)显示技术中,以下关键挑战不包括()。

A.巨量转移(MassTransfer)的高精度与高良率

B.小尺寸下电流拥挤效应导致的效率衰减

C.全彩化实现(红/绿/蓝三基色集成)

D.器件工作温度对发光波长的影响

答案:D

解析:Micro-LED的核心挑战包括:巨量转移(将百万级微米级芯片转移到驱动背板)(A)、小尺寸下电流扩展不均(电流拥挤)导致效率下降(B)、全彩化(RGB芯片集成或色转换)(C);而常规LED的波长温度漂移(约0.1nm/℃)在Micro-LED中仍存在,但非“关键挑战”(D错误)。

7.关于半导体光放大器(SOA),以下描述正确的是()。

A.增益饱和特性使其适合用作光限幅器,但会引入较大的相位噪声

B.与光纤放大器(如EDFA)相比,SOA的增益带宽更窄,噪声指数更低

C.行波式SOA通过增透膜抑制

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