基于振荡环的NAND Flash测试方案的深度剖析与优化策略.docx

基于振荡环的NANDFlash测试方案的深度剖析与优化策略

一、引言

1.1研究背景与意义

在数字化时代，数据的爆发式增长使得存储技术成为信息技术领域的核心支撑。NANDFlash作为一种非易失性存储技术，凭借其高存储密度、快速读写速度以及相对较低的成本，在众多存储设备中占据了重要地位。从智能手机、平板电脑等移动设备，到固态硬盘（SSD）、数据中心存储系统，NANDFlash广泛应用于各个领域，成为现代电子设备不可或缺的组成部分。

随着技术的不断进步，NANDFlash的存储密度持续提升，工艺节点不断缩小，从早期的几十纳米发展到如今的十几纳米甚至更低，这使得在有限的物理空间内能