CN119804335B 基于光取向液晶芯片的快照穆勒矩阵偏振成像装置及方法 (浙江大学).docxVIP

CN119804335B 基于光取向液晶芯片的快照穆勒矩阵偏振成像装置及方法 (浙江大学).docx

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(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN119804335B(45)授权公告日2025.07.01

(21)申请号202510308919.5

(22)申请日2025.03.17

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN119804335A

(43)申请公布日2025.04.11

(73)专利权人浙江大学

地址310058浙江省杭州市西湖区余杭塘

路866号

(72)发明人王楠何赛灵杨家乐

(74)专利代理机构杭州求是专利事务所有限公司33200

专利代理师林松海

(51)Int.CI.

GO1N21/01(2006.01)

GO1N21/21(2006.01)

(56)对比文件

US2004130717A1,2004.07.08CN114414052A,2022.04.29

审查员党蓝图

权利要求书2页说明书5页附图1页

(54)发明名称

基于光取向液晶芯片的快照穆勒矩阵偏振成像装置及方法

(57)摘要

CN119804335B本发明公开了一种基于光取向液晶芯片的快照穆勒矩阵偏振成像装置及方法。该装置包括光源单元、基于光取向液晶芯片的偏振调制单元、样品测量单元、基于光取向液晶芯片的偏振解调单元、光检测器单元和计算机。本发明通过光源单元和偏振调制单元产生偏振态在空间中按特定方式分布的偏振光,该偏振光同样品作用后产生信号光,信号光经过偏振解调单元后,即可通过光检测器一次拍照曝光所采集到的信号图像,通过计算机计算得出待测样品全部穆勒矩阵元素的空间分布。本发明仅需光检测器单次曝光便可完成测量,测量速度快;同时不需要机械

CN119804335B

CN119804335B权利要求书1/2页

2

1.一种基于光取向液晶芯片的快照穆勒矩阵偏振成像装置,其特征在于,包括光源单元、偏振调制单元、样品测量单元、偏振解调单元、光检测器单元和计算机;

所述光源单元、偏振调制单元、样品测量单元、偏振解调单元与光检测器单元沿光路方向依次设置;

所述光源单元沿光路方向依次设有单色光源与第一透镜;所述偏振调制单元沿光路方向依次设有第一偏振片与第一液晶芯片;所述光源单元与所述偏振调制单元产生偏振态在空间中按特定方式分布的偏振光;

所述样品测量单元沿光路方向依次设有第二透镜、样品台与第三透镜,样品放置于样品台上;

所述偏振解调单元沿光路方向依次设有第二液晶芯片与第二偏振片;所述光检测器单元沿光路方向依次设有第四透镜与光检测器;所述偏振解调单元与所述光检测器单元对由所述样品测量单元发出的信号光进行全斯托克斯偏振成像;

在沿光路方向上,所述第一液晶芯片、所述样品、所述第二液晶芯片和所述光检测器的感光面处于光学成像共轭位置;在垂直于光路方向上,第一液晶芯片每个子像素与第二液晶芯片每个超像素处于光学成像共轭位置;

所述计算机与所述光检测器相连,采集光检测器探测到的信号图像;基于光检测器一次拍照曝光所采集到的图像,计算机计算得出所述样品全部穆勒矩阵元素的空间分布,实现快照式穆勒矩阵偏振成像。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,该装置的光路限定在右手直角坐标系XYZ中,其中主光轴平行于Z轴,Z轴正向为光传播方向,所述第一偏振片透光轴平行于X轴。

3.根据权利要求1或者2所述的装置,其特征在于,所述第一液晶芯片与所述第二液晶芯片均为灌注有向列相液晶的采用液晶光控取向技术制作的具有微结构的液晶盒,第一液晶芯片与第二液晶芯片的微结构均由在空间上周期性重复的超像素组成,每一超像素内部划分为至少四个面积相等的子像素,每一子像素中,向列相液晶沿某一特定方向均匀定向,不同子像素中,液晶的定向方向不同。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,第一液晶芯片与第二液晶芯片的微结构均由在空间上周期性重复的超像素组成,每一超像素内部划分为四个面积相等的子像素;每一子像素中,液晶均匀定向,指向矢n平行于表面,对于第一液晶芯片和第二液晶芯片,子像素i中液晶指向矢n同X轴的夹角均为θ?=51.69°,子像素ii中液晶指向矢n同X轴的夹角均为θ?=164.88°,子像素iii中液晶指向矢n同X轴的夹角均为θ?=128.31°,子像素iv中液晶指向矢n同X轴的夹角均为θ?=15.12°;第一液晶芯片(202)与第二液晶芯片(401)所引入的相位延迟均为228.19°。

5.根

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