CN114036778B 一种光学特性建模的方法和装置 （上海精测半导体技术有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN114036778B(45)授权公告日2025.07.15

(21)申请号202111425147.1

(22)申请日2021.11.26

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114036778A

(43)申请公布日2022.02.11

(56)对比文件

CN112163341A,2021.01.01

CN102385569A,2012.03.21

审查员曾鹏飞

(73)专利权人上海精测半导体技术有限公司地址201700上海市青浦区徐泾镇双浜路

269、299号1幢1、3层

(72)发明人张晓雷张厚道施耀明

(74)专利代理机构上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙)31286

专利代理师黄海霞

(51)Int.CI.

GO6F30/20(2020.01)

GO6F17/16(2006.01)权利要求书4页说明书13页附图8页

(54)发明名称

一种光学特性建模的方法和装置

(57)摘要

CN114036778