深度解析(2026)《SJT 10167-1991电子设备密封结构试验方法》.pptxVIP

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目录

一、标准之魂：为何这部三十年前的密封试验规范，仍是当今高可靠电子设备研发的基石与压舱石？

二、环境应力谱深度剖析：专家视角揭秘湿热、盐雾、低气压等严酷试验如何模拟设备全生命周期挑战？

三、“泄漏”的本质探究：超越简单密封，深度解读细漏、粗漏的物理机制与失效模型的建立方法

四、试验方法全景解构：从准备到判据，逐步拆解氦质谱检漏、气泡检漏等核心技术的操作精髓与陷阱规避

五、数据之眼：如何科学处理试验数据？权威解读散点图、统计分析与不确定度评估在密封性能判定中的核心作用

六、从合格到卓越：基于试验结果的密封结构优化设计与工艺改进路线图实战指南

七、标准跨界融合：前瞻洞察SJ/T101