CN114035042B 伺服系统寿命试验方法、装置、计算机设备和存储介质 （中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）））.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN114035042B(45)授权公告日2025.01.10

(21)申请号202111170786.8

(22)申请日2021.10.08

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114035042A

(43)申请公布日2022.02.11

(73)专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

地址511300广东省广州市增城区朱村街

朱村大道西78号

(72)发明人刘文威郭广廓董成举潘广泽樊依圣林家领王远航陈勃琛

王春辉

(74)专利代理机构华进联合专利商标代理有限公司44224

专利代理师邓丹

(51)Int.CI.

GO1R31/34(2006.01)

GO1M13/00(2019.01)

(56)对比文件

CN108106873A,2018.06.01

CN110836777A,2020.02.25

CN112710690A,2021.04.27

审查员彭璜

权利要求书2页说明书14页附图7页

(54)发明名称

伺服系统寿命试验方法、装置