CN119334713A 一种粉末床熔融制件ct检测对比试块及制作方法 （中国商用飞机有限责任公司北京民用飞机技术研究中心）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119334713A(43)申请公布日2025.01.21

(21)申请号202411219404.X

(22)申请日2024.09.02

(71)申请人中国商用飞机有限责任公司北京民用飞机技术研究中心

地址102200北京市昌平区英才北一街3号

院

申请人中国商用飞机有限责任公司

(72)发明人高运来康梓铭葛增如刘建光张嘉振

(74)专利代理机构泰和泰律师事务所51219专利代理师范相玉

(51)Int.CI.

GO1N1/28(2006.01)

GO1N23/046(2018.01)

权利要求书2页说明书7页附图2页

(54)发明名称

一种粉末床熔融制件CT检测对比试块及制

作方法

(57)摘要

CN119334713A1本发明公开了一种粉末床熔融制件CT检测对比试块及制作方法，所述对比试块包括试块基体和缺陷单元；试块基体是由两个不同直径的圆柱体组成阶梯轴结构，用于CT检测对粉末床熔融制件厚度灵敏度的对比试验；缺陷单元是由设在所述试块基体上的若干不同直径的平底孔、球状缺陷和柱状缺陷，用于验证CT检测对粉末床熔融制件的缺陷检出能力。采用本发明的对比试块及制作方法后，可通过使用本发明的对比试块的CT图像分析可识别的所述缺陷单元细节，用于确定粉末床熔融制件缺陷内部未熔化金属粉末对CT检测灵敏度和缺陷识别的影响，提高粉末床熔融

CN119334713A

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CN119334713A权利要求书1/2页

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1.一种粉末床熔融制件CT检测对比试块，其特征在于：所述对比试块包括试块基体和缺陷单元；

所述试块基体是由两个不同直径的圆柱体组成阶梯轴结构，用于CT检测对粉末床熔融制件厚度灵敏度的对比试验；

所述缺陷单元是由设在所述试块基体上的若干不同直径的平底孔、球状缺陷和柱状缺陷，用于验证CT检测对粉末床熔融制件的缺陷检出能力、提高检测结果的可靠性并辅助对缺陷评定。

2.根据权利要求1所述的一种粉末床熔融制件CT检测对比试块，其特征在于，所述试块基体包括两个试块基体单元，即第一试块基体单元和第二试块基体单元；所述两个试块基体单元为高度相同、直径不同的圆柱体，所述两个试块基体单元的圆柱体共轴且组成阶梯轴结构；

所述第一试块基体单元的圆柱体直径与CT检测的粉末床熔融制件的最小厚度相同，所述第二试块基体单元的圆柱体直径与CT检测的粉末床熔融制件的最大厚度相同。

3.根据权利要求2所述的一种粉末床熔融制件CT检测对比试块，其特征在于，所述两个试块基体单元上均设有相同数量的缺陷单元；所述缺陷单元设有相同直径的平底孔、球状缺陷和柱状缺陷，且相同直径的所述球状缺陷的球心在所述平底孔的轴线上，所述平底孔和柱状缺陷的轴线与所述试块基体单元的轴线平行。

4.根据权利要求3所述的一种粉末床熔融制件CT检测对比试块，其特征在于，所述平底孔为圆柱状的空心结构，且以竖直方式设置，所述平底孔的一端位于所述试块基体单元的上表面，且端部对外开口，另一端为密封端，位于所述试块基体单元内部；

所述球状缺陷为内部含未熔化金属粉末的球形孔结构，设置在所述试块基体单元内

部；

所述柱状缺陷为内部含未熔化金属粉末的圆柱孔结构，且以竖直方式设置在所述试块基体单元内部；

所述平底孔、球状缺陷和柱状缺陷在所述试块基体单元上以轴向等间距设置，分别位于其上部、中部和下部。

5.根据权利要求1所述的一种粉末床熔融制件CT检测对比试块，其特征在于，所述平底孔设置有多个，且同一个试块基体单元上任意两个平底孔的直径不相同，所述多个平底孔在试块基体单元上部以周向等间距设置，且每个平底孔至试块基体单元轴线的距离相等；

所述球状缺陷设置有多个且与所述平底孔的数量相等，同一个试块基体单元上任意两个球状缺陷的直径不相同且与平底孔直径一一对应，所述球状缺陷在试块基体单元中部的分布位置与所述平底孔相同；

所述柱状缺陷设置有多个，且同一个试块基体单元上每个柱状缺陷直径相同，每个柱状缺陷内部的致密度不同，且柱状缺陷内部金属粉末的熔化状态在完全熔化至完全未熔化之间依次递减，所述柱状缺陷在所述试块基体单元下部的分布位置与平底孔相同。

6.一种粉末床熔融制件CT检测对比试块制作方法，用于制造上述权利要求1-5中的对比试块，其特征在于，所述方法包括：

S1,试块设计，根