CN116754518A 基于强耦合多芯光纤的折射率传感器、传感方法及制作方法 （暨南大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN116754518A(43)申请公布日2023.09.15

(21)申请号202310491821.9

(22)申请日2023.05.05

(71)申请人暨南大学

地址510632广东省广州市天河区黄埔大

道西601号

(72)发明人谢友航陈昊武创李杰关柏鸥

(74)专利代理机构广州市华学知识产权代理有限公司44245

专利代理师杜柱东

(51)Int.CI.

GO1N21/45(2006.01)

权利要求书1页说明书4页附图4页

(54)发明名称

基于强耦合多芯光纤的折射率传感器、传感方法及制作方法

(57)摘要

CN116754518A本发明公开了一种基于强耦合多芯光纤的折射率传感器、传感方法及制作方法，传感器包括宽带光源、入射光纤、去除涂覆层且包层被腐蚀到特定厚度的强耦合多芯光纤、出射光纤以及光谱分析仪；宽带光源与入射光纤的左端连接在一起，入射光纤右端中心与强耦合多芯光纤左端相连，强耦合多芯光纤右端与出射光纤左端相连，出射光纤右端与光谱分析仪连接；强耦合多芯光纤作为测量液体折射率特性的传感探头。本发明传感器制作简单，结构紧凑，在生化传感领

CN116754518A

CN116754518A权利要求书1/1页

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1.基于强耦合多芯光纤的折射率传感器，其特征在于，包括：宽带光源、入射光纤、去除涂覆层且包层被腐蚀到特定厚度的强耦合多芯光纤、出射光纤以及光谱分析仪；

宽带光源与入射光纤的左端连接在一起，入射光纤右端中心与强耦合多芯光纤左端相连，强耦合多芯光纤右端与出射光纤左端相连，出射光纤右端与光谱分析仪连接；

强耦合多芯光纤作为测量液体折射率特性的传感探头。

2.根据权利要求1所述的基于强耦合多芯光纤的折射率传感器，其特征在于，强耦合多芯光纤具体包括N+1个纤芯；

其中，中心芯直径为8～10μm,位于光纤中心位置，其余N个纤芯呈N边形均匀分布在中间纤芯周围，其纤芯直径为5～9μm,N为4～6,周围N个纤芯距离中心芯的间距为8～12μm,多芯光纤的长度为20～100mm。

3.根据权利要求1所述的基于强耦合多芯光纤的折射率传感器，其特征在于，入射光纤和出射光纤为标准单模光纤，单模光纤纤芯直径为8μm,包层直径为125μm。

4.根据权利要求1所述的基于强耦合多芯光纤的折射率传感器，其特征在于，入射光纤与强耦合多芯光纤为无偏心相连，强耦合多芯光纤与出射光纤为无偏心相连。

5.根据权利要求2所述的基于强耦合多芯光纤的折射率传感器，其特征在于，强耦合多芯光纤具有特定长度，特定长度为当测试光向多芯光纤耦合时，使得两个被激发超模式在多芯光纤输出端面处相干相加的长度。

6.根据权利要求5所述的基于强耦合多芯光纤的折射率传感器，其特征在于，超模式干涉型折射率传感器工作时包括以下步骤：

宽带光源发出入射光波，在入射光纤传输时激发基模，当入射光纤的纤芯与强耦合多芯光纤的中间纤芯具有相同直径连接时，入射光纤传输的基模将在与强耦合多芯光纤连接处激发出两个超模式，在特定长度的强耦合多芯光纤中传播后，两个超模式存在对应的相位差，并在与出射光纤连接处相互耦合产生干涉，在光谱分析仪中可观察干涉图样；

当强耦合多芯光纤包层被腐蚀时，强耦合多芯光纤纤芯中的光以倏逝场的形式泄漏到周围介质中，当周围液体折射率发生变化时，干涉图样则因为色散效应产生对应的漂移，通过观察干涉图样的变化获知强耦合多芯光纤外界液体折射率的变化。

7.基于权利要求1所述的折射率传感器的传感方法，其特征在于，包括以下步骤：

将折射率物质放入其他光折射率计完成定标；

将超模式干涉型折射率传感器放置在待测环境中，更换折射率样品，记录光谱分析仪中的各干涉光谱；

对比干涉光谱具体波段的波长漂移，获取定标数据中对应的折射率，进而得出待测环境中物质的折射率。

8.基于权利要求1所述的折射率传感器的制作方法，其特征在于，包括以下步骤：

在强耦合多芯光纤与入射光纤及出射光纤的熔接点处裹上紫外胶；

将强耦合多芯光纤浸入盛有氢氟酸的矩形槽中，分别采用40%浓度和10%浓度的氢氟酸对多芯光纤进行腐蚀，通过控制腐蚀时间，将强耦合多芯光纤包层厚度分别腐蚀至30.1μm、28.2μm、26.5μm。

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