宣贯培训(2026年)《YST 1703-2024晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法》.pptxVIP

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目录

一、专家深度剖析：为何YS/T1703-2024的颁布标志着晶片表面洁净度管控迈入“液体颗粒计数”精准化新时代？

二、前瞻行业趋势：从“目视检查”到“量化分析”，液体颗粒计数法如何重塑未来几年半导体封装材料洁净度评价体系？

三、核心原理精解：液体颗粒计数法的科学根基——光学传感器与流体系统协同作用下的颗粒捕获与识别机制全透视

四、标准核心要点逐条精读：深入解读YS/T1703-2024中关于术语定义、测试设备要求与校准规范的专家级见解

五、测试流程全流程深度剖析：从片盒预处理、采样液制备到颗粒采集与数据分析的标准化操作步骤与关键控制点

六、疑点与难