碲镉汞红外探测器组件长期可靠性:影响因素、测试与提升策略探究.docx

碲镉汞红外探测器组件长期可靠性:影响因素、测试与提升策略探究.docx

碲镉汞红外探测器组件长期可靠性:影响因素、测试与提升策略探究

一、引言

1.1研究背景与意义

在红外探测领域,碲镉汞(HgCdTe)红外探测器组件凭借其卓越的性能,成为了核心关键部件。自1959年英国科学家Lawson等人发表关于碲镉汞材料制备和性质研究结果以来,碲镉汞材料正式登上红外探测的舞台,并在随后的六十多年里,逐渐成为红外探测器领域的主角。碲镉汞材料具有极为优异的光电性能,其光谱响应范围宽广,能够覆盖从近红外到远红外的多个波段,具体而言,其波长范围可从1μm延伸至30μm。这种宽光谱响应特性,使得碲镉汞红外探测器组件能够在不同的红外探测场景中发挥作用,无论是对微弱信号

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