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辐射翻转与冗余协同的多节点翻转加固锁存器设计.pdf

辐射翻转与冗余协同的多节点翻转加固锁存器设计.pdf

    摘要

    摘要

    在复杂辐射环境中，高能粒子轰击时序电路的敏感节点时，粒子入射轨迹上

    产生的电荷会引起敏感节点电压的瞬态变化，进而导致软错误。工艺尺寸缩小和

    供电电压降低使节点临界电荷显著下降，导致较小的电荷量也能够引发节点逻辑

    值的改变。此外，在粒子撞击和电荷共享效应的作用下，锁存器电路愈加容易发

    生双节点或三节点翻转。这一现象对航空航天等领域产生了极大的影响，严重制

    约了相关技术的发展。因此，针对IC中的单粒子效应进行加固

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