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- 2026-03-03 发布于重庆
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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN101833138A
(43)申请公布日2010.09.15
(21)申请号201010161238.4
(22)申请日2010.04.30
(71)申请人华中科技大学
地址430074湖北省武汉市洪山区珞喻路
1037号
(72)发明人汪毅邵士茜
(74)专利代理机构华中科技大学专利中心
42201
代理人朱仁玲
(51)Int.CI.
GO2BGO2B
6/34(2006.01)5/18(2006.01)
权利要求书1页说明书3页附图1页
(54)发明名称
一种偏振无关光栅耦合器的制作方法
(57)摘要
CN101833138A(b)(d)本发明提供了一种T型槽光栅结构的设计方法,对两种模式采取不同的耦合原理来实现输出耦合器,从而实现了采用同一结构对TE、TM模式同时高效率耦合输出。本发明实现了在1480-1580nm波长范围内TE、TM模式的耦合效率均高于50%,两种模式的耦合效率都在1550nm波长处达到了58%;而在1510-1580nm波长范围内耦合器的偏振相关损耗(PDL)小于0.05dB,在1550nm波长处仅为3.6×10?3dB,所设计的光栅耦合器实现了高耦合效率、低偏振相关损耗、宽带宽的耦合输出功能。器件结构简单、制作方便、体积小,且与标准的CMOS
CN101833138A
(b)(d)
CN101833138A权利要求书1/1页
2
1.一种偏振无关光栅耦合器的制作方法,包括如下步骤:
(1)根据光栅耦合布拉格条件计算TM模式的周期TT;
(2)根据光栅谐振条件计算TE模式的周期TT;
(3)令T=TT,求得所述偏振无关光栅耦合器的上层材料厚度,将此时的TTM或TE设置为该偏振无关光栅耦合器的周期;
(4)利用上述求得的上层材料厚度和设置的周期制作竖直Slot光栅;
(5)在上述竖直slot光栅的凹槽上部刻蚀一组浅刻蚀光栅,使得上述竖直Slot光栅变为T型槽光栅,调节所述浅刻蚀光栅的刻蚀宽度与刻蚀深度,使得当其在TE模式耦合输出效率最大、TM模式耦合效率不受影响时,此时刻蚀形成的T型槽光栅即为所求的偏振无关光栅耦合器。
2.根据权利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述的周期TT为λ/neff,其中,λ为耦合波长,neff为TM模式的有效折射率。
3.根据权利要求1或2所述的制作方法,其特征在于,所述在计算TE模式的周期TTE中,首先将光场束缚在一个布拉格光栅谐振器之中,此时,TE模式光栅耦合器的工作是遵循光栅谐振条件,从而光栅周期T在(2a±1)λ/4nefB到aλ/2neffE范围内,其中,neff为TE模式的有效折射率,λ为耦合波长,a为正整数。
4.根据权利要求1-3之一所述的制作方法,其特征在于,所述的偏振无关光栅耦合器的材料可以是任何对TE和TM模式存在有效折射率差的材料。
CN101833138A说明书1/3页
3
一种偏振无关光栅耦合器的制作方法
技术领域
[0001]本发明涉及光耦合领域,特别是一种集成光栅耦合器,具有偏振无关的特性。
背景技术
[0002]集成硅基光学系统,由于其小的器件尺寸,以及与传统集成电路CMOS工艺良好的兼容性,成为目前研究的一个热点。许多微纳器件已经在硅基上实现集成,如激光器、调制器、滤波器、耦合器、缓存器等等。而光栅用于实现耦合器功能,有着耦合面积小、耦合效率高等优点,从而被广泛应用在平面光学系统中。
[0003]但是光栅和其他光学微纳器件一样,由于尺寸小使得器件对于TE、TM模式的有效折射率存在较大差异,从而导致了器件偏振相关的问题。通过光诱导双折射现象可以解决器件偏振相关的问题(D.A.Peyrot,T.V.Galstian,andR.A.Lessard,“Polarizationindependentgrating
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